| 发明名称 | 测定表面涂层温度的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种测定转动叶片(4)的表面涂层温度的方法，所述转动叶片(4)布置在一非正位移机器中，并且可旋转地安装在一壳体(2)中的转子轴上，其中，通过至少一个用于产生电磁波的构件(8)在一通道中的转动叶片(4)的区域内发射电磁波(31)，所述电磁波(31)至少部分被至少一个转动叶片(4)反射，通过至少一个接收构件(8)接收所述电磁波中被反射的电磁波(32)，并根据接收到的电磁波(32)的一强度分布测定所述转动叶片(4)的表面涂层温度。此外，本发明还涉及一种测定在一具有一壳体的非正位移机器中旋转固定安装的导向叶片的一表面涂层温度的方法与一种用于实施上述方法的装置。 | ||
| 申请公布号 | CN101044379A | 申请公布日期 | 2007.09.26 |
| 申请号 | CN200580035859.5 | 申请日期 | 2005.10.11 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 托马斯·博塞尔曼;克劳斯·休伯;弗朗西斯科·J·塞维拉佩雷斯;迈克尔·威尔希 |
| 分类号 | G01K11/00(2006.01) | 主分类号 | G01K11/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 张亮 |
| 主权项 | 1.一种测定复数个转动叶片(4)的表面涂层(12)温度的方法，所述转动叶片(4)布置在一非正位移机器(1)中的转子轴(3)上，所述转子轴(3)可旋转地安装在一壳体(2)中，其中，通过至少一个用于产生电磁波的构件(8)在一通道(6)中的所述转动叶片(4)的区域内发射电磁波(31)，所述电磁波(31)中至少部分被至少一个转动叶片(4)反射，通过至少一个接收构件(8)接收所述被反射的电磁波(32)，并根据接收到的电磁波(32)的一强度分布测定所述转动叶片(4)表面涂层(12)的温度。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||