发明名称 |
磁共振成像设备和磁共振成像方法 |
摘要 |
为了精确计算接收线圈(214)的灵敏度分布,并精确获得受检对象的层析图像,基于以具有参考扫描中的多个不同回波时间TE1和TE2的成像序列、通过表面线圈(214b)接收的磁共振信号,通过第一参考图像产生部分(231)产生多个参考图像;并基于多个参考图像,通过T2驰豫时间计算部分(232)计算T2驰豫时间。然后,基于计算的T2驰豫时间,通过T2-加权图像计算部分(234)计算回波时间TE2处的T2-加权图像,并在之后,基于回波时间TE2处的参考图像和T2-加权图像,通过灵敏度分布计算部分(235)计算灵敏度分布。基于灵敏度分布,通过校正部分(236)校正通过实际扫描的层析图像。 |
申请公布号 |
CN100339047C |
申请公布日期 |
2007.09.26 |
申请号 |
CN200410011469.1 |
申请日期 |
2004.12.21 |
申请人 |
GE医疗系统环球技术有限公司 |
发明人 |
椛泽宏之 |
分类号 |
A61B5/055(2006.01);G01R33/20(2006.01) |
主分类号 |
A61B5/055(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
程天正;张志醒 |
主权项 |
1、一种磁共振成像设备,其用于根据参考扫描中产生的成像区域中的接收线圈(214)的灵敏度分布,校正受检对象的所述成像区域的层析图像,该层析图像是基于在实际扫描中通过所述接收线圈(214)接收的磁共振信号产生的,所述设备包括:第一参考图像产生装置(231),其基于以具有所述参考扫描中的多个不同回波时间的预定成像序列、来自通过所述接收线圈(214)接收的所述成像区域的所述磁共振信号,用于分别产生所述多个不同回波时间处的参考图像;T2驰豫时间计算装置(232),其基于通过所述第一参考图像产生装置(231)产生的多个参考图像,用于计算T2驰豫时间;T2-加权图像计算装置(232),其基于通过所述T2驰豫时间计算装置(232)计算的T2驰豫时间,用于计算所述多个不同回波时间其中之一处的T2-加权图像;以及灵敏度分布计算装置(235),其基于在所述T2-加权图像计算装置(232)计算所述T2-加权图像时利用的回波时间处通过所述第一参考图像产生装置(231)产生的参考图像,并基于通过所述T2-加权图像计算装置(232)计算的所述T2-加权图像,用于计算所述灵敏度分布。 |
地址 |
美国威斯康星州 |