决定闪存元件感测时间的方法和装置

摘要

本发明揭示一种决定一闪存元件的一感测时间的方法，所述方法包含：将一第一参考位线放电、将一第二参考位线放电、决定一第一控制信号和决定一第二控制信号。为执行所述方法，本发明揭示一种决定一闪存元件的一感测时间的装置，其包含：一第一电流槽、一第二电流槽、一第一参考页缓冲区、一第二参考页缓冲区、一第一参考位线和一第二参考位线。所述第一参考位线耦合于所述第一电流槽与所述第一参考页缓冲区之间；所述第二参考位线，耦合于所述第二电流槽与所述第二参考页缓冲区之间。所述第一和第二参考位线预充电到与常态单元的位线具有相同电压电平。所述第一和第二电流槽在读取和验证操作时，分别用以对所述第一和第二参考位线进行放电。

主权项

1.一种决定闪存元件感测时间的方法，所述闪存元件包含位于一内存单元阵列中的一页缓冲区和复数个常态单元，其特征在于所述方法包含以下步骤：经由一第一电流槽将一耦合到一第一参考页缓冲区的第一参考位线放电；经由一第二电流槽将一耦合到一第二参考页缓冲区的第二参考位线放电；当所述第一参考位线的电压到达一第一预定电压时，产生一第一控制信号；和当所述第二参考位线的电压到达一第二预定电压时，产生一第二控制信号；其中所述第二控制信号的产生由所述第一控制信号的状态和一耦合到所述第二参考位线的节点的电位所决定，所述第一和第二控制信号提供到所述页缓冲区，且所述第二控制信号的生成时间决定所述感测时间。