发明名称 |
用于校准多轴计量系统的几何形状的方法 |
摘要 |
一种用于校正和对准计量系统的方法,其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器,并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系,校准机器和嵌入式量具的各个分量,并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤:粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴,并且为转动轴设置标称零点;将嵌入式量具主机架对准机器轴线;将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上;如此对准之后,确定转动轴之间的空间偏移;精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴;以及为转动轴设置精确的零点。 |
申请公布号 |
CN101044370A |
申请公布日期 |
2007.09.26 |
申请号 |
CN200480041546.6 |
申请日期 |
2004.11.18 |
申请人 |
QED国际科技公司 |
发明人 |
保罗·墨菲;乔恩·弗里格;格雷格·福布斯 |
分类号 |
G01B11/26(2006.01);G01C1/00(2006.01) |
主分类号 |
G01B11/26(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
王新华 |
主权项 |
1.一种用于确定测试零件相对于主轴轴线的位置、主轴轴线相对于波阵面测量量具的位置的零件安装方法,该方法用在计量系统内,其中所述计量系统包括具有主轴轴线和波阵面测量量具的零件定位装置,所述方法包括下述步骤:a)将所述测试零件安装到所述主轴轴线上,从而所述测试零件的表面暴露给所述量具;b)在所述主轴的多个转动位置处通过所述量具获取所述测试零件表面的测量值;c)从每个所述转动位置的所述表面测量值中提取倾斜分量;d)对所述倾斜分量和所述转动位置拟合圆;以及e)确定所述圆的中心和半径坐标,以便分别提供量具到主轴和主轴到零件的未对准度。 |
地址 |
美国伊利诺斯州 |