发明名称 | 用以侦测在半导体制程中之电荷效应之方法 | ||
摘要 | 一种半导体制程测试结构,其包括一闸极、一电荷捕捉层、以及一扩散区域。此测试结构系为一类电容结构,其中此电荷捕捉层会在不同制程步骤中捕捉电荷。一电荷泵电流可用以侦测在不同制程步骤中所产生之充电效应。 | ||
申请公布号 | TW200735248 | 申请公布日期 | 2007.09.16 |
申请号 | TW096101495 | 申请日期 | 2007.01.15 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 吴昭谊;李明修;郭明昌 |
分类号 | H01L21/66(2006.01) | 主分类号 | H01L21/66(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 李贵敏 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |