发明名称 碎片装置、系统及方法
摘要 一种在浸入式微影制造技术中用于减少半导体装置晶圆污染的装置、系统与方法。一较佳的实施例包括提供该装置结构完整性的一支撑环,以及形成在该支撑环一侧上的一平面环。该平面环具有复数穿过该平面环所形成的开口。该装置位在一晶圆载物台的沟槽中,而该复数开口允许过剩浸没流体流通过并进入该沟槽,并在该沟槽处移除该流体。然而,该装置可避免因为该晶圆载物台的移动而造成该沟槽之中的过剩浸没流体与污染物回到该晶圆载物台之上,以避免污染一半导体晶圆的潜在可能性。
申请公布号 TW200735181 申请公布日期 2007.09.16
申请号 TW096104390 申请日期 2007.02.06
申请人 奇梦达股份有限公司 发明人 法兰西斯古德温
分类号 H01L21/027(2006.01) 主分类号 H01L21/027(2006.01)
代理机构 代理人 蔡清福
主权项
地址 德国