发明名称 | 处理器测试架构 | ||
摘要 | 一种处理器测试架构,其中,正确处理器产生测试型样并储存执行此测试型样后所得的正确执行结果。待测处理器耦接至正确处理器以接收测试型样,并执行此测试型样而输出测试执行结果。正确执行结果与测试执行结果会对照每一个功能的执行结果进行比较。当正确执行结果与测试执行结果二者相同时,判断待测处理器为正常。 | ||
申请公布号 | TW200734867 | 申请公布日期 | 2007.09.16 |
申请号 | TW095108359 | 申请日期 | 2006.03.13 |
申请人 | 奇景光电股份有限公司 | 发明人 | 刘恕民;陈俊裕;林伟棻;卜令楷 |
分类号 | G06F11/28(2006.01) | 主分类号 | G06F11/28(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 台南县新化镇中山路605号10楼 |