发明名称 积体电路测试系统及方法
摘要 一种适用于影像感测元件之积体电路测试系统,其整合快速DMA I/O Card和PE Card,将影像讯号透过PE Card的PEChannel处理后,由快速DMA I/O Card传送至影像处理个人电脑做运算处理。由于快速DMA I/O Card和个人电脑系用之标准规格模组,使用者可任意更换不同等级之快速DMA I/O Card及个人电脑以配合测试不同规格之影像感测元件。
申请公布号 TW200734658 申请公布日期 2007.09.16
申请号 TW095108113 申请日期 2006.03.10
申请人 京元电子股份有限公司 发明人 梁文山;苏哲毅
分类号 G01R31/26(2006.01);H04N17/00(2006.01) 主分类号 G01R31/26(2006.01)
代理机构 代理人 陈达仁
主权项
地址 新竹市公道五路2段81号