发明名称 | 积体电路测试系统及方法 | ||
摘要 | 一种适用于影像感测元件之积体电路测试系统,其整合快速DMA I/O Card和PE Card,将影像讯号透过PE Card的PEChannel处理后,由快速DMA I/O Card传送至影像处理个人电脑做运算处理。由于快速DMA I/O Card和个人电脑系用之标准规格模组,使用者可任意更换不同等级之快速DMA I/O Card及个人电脑以配合测试不同规格之影像感测元件。 | ||
申请公布号 | TW200734658 | 申请公布日期 | 2007.09.16 |
申请号 | TW095108113 | 申请日期 | 2006.03.10 |
申请人 | 京元电子股份有限公司 | 发明人 | 梁文山;苏哲毅 |
分类号 | G01R31/26(2006.01);H04N17/00(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 陈达仁 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市公道五路2段81号 |