发明名称 | 测试装置、测试方法、电子设备、以及设备生产方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种测试装置,对包含场效应晶体管的电子设备进行测试,且该测试装置包括:电源,供给电子设备驱动用的电力;图案产生部,依次产生并供给多个测试图案,所述多个测试图案应供给到电子设备中;泄漏电流检测部,对场效应晶体管的泄漏电流进行检测;电压控制部,对施加到设置着场效应晶体管的衬底的衬底电压进行控制,以使由泄漏电流检测部所检测的泄漏电流成为规定的值;以及电源电流测定部,在每次施加各个测试图案时,对输入到电子设备中的电源电流进行测定,并根据经测定的电源电流来判定电子设备的良否。 | ||
申请公布号 | CN101036063A | 申请公布日期 | 2007.09.12 |
申请号 | CN200580033559.3 | 申请日期 | 2005.10.11 |
申请人 | 爱德万测试株式会社 | 发明人 | 古川靖夫 |
分类号 | G01R31/317(2006.01) | 主分类号 | G01R31/317(2006.01) |
代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿宁 |
主权项 | 1.一种测试装置,对电子设备进行测试,所述电子设备设置着根据所给予的测试图案来运行的场效应晶体管,其特征在于所述测试装置包括:电源,供给所述电子设备驱动用的电力;图案产生部,依次产生并供给多个所述测试图案,多个所述测试图案应供给到所述电子设备中;泄漏电流检测部,对所述场效应晶体管的泄漏电流进行检测;电压控制部,对施加到设置着所述场效应晶体管的衬底的衬底电压进行控制,以使由所述泄漏电流检测部所检测的所述泄漏电流维持规定的值;以及电源电流测定部,在每次施加各个所述测试图案时,对输入到所述电子设备中的电源电流进行测定,并根据经测定的所述电源电流来判定所述电子设备的良否。 | ||
地址 | 日本东京 |