发明名称 数显测厚规
摘要 本实用新型公开了一种数显测厚规,包括尺架,尺架一端设置有显示部及活动测砧,所述活动测砧的一端位于显示部内并与读数检测机构配合,活动测砧另一端与尺架一端的固定测砧相对设置构成测量部分,其特征在于:还设置有第二固定测砧,所述第二固定测砧位于固定测砧与活动测砧之间,并与尺架活动连接,第二固定测砧的端部相对于活动测砧一侧的端面曲率大于被测管腔内壁待测位置处的曲率。本实用新型既可以测量物体的外径或外型厚度,也可以用于测量管壁厚度,拓宽了使用范围,提高了测量精度。
申请公布号 CN200947026Y 申请公布日期 2007.09.12
申请号 CN200620077875.2 申请日期 2006.09.25
申请人 苏州英仕精密机械有限公司 发明人 沃林
分类号 G01B5/06(2006.01);G01B5/08(2006.01) 主分类号 G01B5/06(2006.01)
代理机构 苏州创元专利商标事务所有限公司 代理人 陶海锋
主权项 1.一种数显测厚规,包括尺架,尺架一端设置有显示部[1]及活动测砧[3],所述活动测砧[3]的一端位于显示部[1]内并与读数检测机构配合,活动测砧另一端与尺架另一端的固定测砧[4]相对设置构成测量部分,其特征在于:还设置有第二固定测砧[5],所述第二固定测砧[5]位于固定测砧与活动测砧之间,并与尺架[2]活动连接,第二固定测砧[5]的端部相对于活动测砧一侧的端面曲率大于被测管腔内壁待测位置处的曲率。
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