发明名称 一种化合物半导体复合膜
摘要 本发明提供了一种化合物半导体材料及其制造工艺,特别涉及一种具有大面积、微结构的化合物半导体复合薄膜。包括具有纳米尺寸的二维半导体材料、一维半导体材料、零维半导体材料及具有阵列点阵的半导体材料。一种半导体复合薄膜的制造工艺,它是利用核径迹蚀刻技术在电介质薄膜上蚀刻出微孔,再在微孔中沉积填充化合物半导体材料。填充方法具有模板法限位生长的特性,又有溶胶凝胶法化合物半导体组成、成分易于控制的特性,并利用电化学生长进行控制的特性。
申请公布号 CN101034668A 申请公布日期 2007.09.12
申请号 CN200610024516.5 申请日期 2006.03.09
申请人 毕明光;殷伟军 发明人 毕明光;殷伟军;殷小淞;毕颖
分类号 H01L21/20(2006.01);H01L21/311(2006.01);H01L29/06(2006.01) 主分类号 H01L21/20(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1、本发明涉及一种半导体复合薄膜的制造工艺,它的特征是利用核径迹蚀刻技术在电介质薄膜上蚀刻出微孔,再在微孔中沉积化合物半导体材料。
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