发明名称 |
一种化合物半导体复合膜 |
摘要 |
本发明提供了一种化合物半导体材料及其制造工艺,特别涉及一种具有大面积、微结构的化合物半导体复合薄膜。包括具有纳米尺寸的二维半导体材料、一维半导体材料、零维半导体材料及具有阵列点阵的半导体材料。一种半导体复合薄膜的制造工艺,它是利用核径迹蚀刻技术在电介质薄膜上蚀刻出微孔,再在微孔中沉积填充化合物半导体材料。填充方法具有模板法限位生长的特性,又有溶胶凝胶法化合物半导体组成、成分易于控制的特性,并利用电化学生长进行控制的特性。 |
申请公布号 |
CN101034668A |
申请公布日期 |
2007.09.12 |
申请号 |
CN200610024516.5 |
申请日期 |
2006.03.09 |
申请人 |
毕明光;殷伟军 |
发明人 |
毕明光;殷伟军;殷小淞;毕颖 |
分类号 |
H01L21/20(2006.01);H01L21/311(2006.01);H01L29/06(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/20(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1、本发明涉及一种半导体复合薄膜的制造工艺,它的特征是利用核径迹蚀刻技术在电介质薄膜上蚀刻出微孔,再在微孔中沉积化合物半导体材料。 |
地址 |
201800上海市嘉定区桃园新村6号402室 |