发明名称 微影投射装置及制造元件之方法
摘要 本发明系揭示一种微影装置,其包括:一微透镜阵列,其系用以产生一二维阵列之复数个源影像,一可程式化定图案构件,其系具有复数个可定址元件,其作用如同用于该源影像之快门,及一投射子系统,其系用以投射该等源影像阵列之影像至一基板。藉此可获得较大的操作距离。
申请公布号 TWI286676 申请公布日期 2007.09.11
申请号 TW093114519 申请日期 2004.05.21
申请人 ASML公司 发明人 卡理尔 戴德克 范 德 麦斯特;爱诺 詹 柏里克;成群 桂;乔安 克利斯丁 捷瑞德 豪内吉尔;CHRISTIAAN GERARD
分类号 G03F7/20(2006.01) 主分类号 G03F7/20(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 1.一种微影投射装置,包括: - 一照明系统,其系用以提供应一照射之投射光束; - 可程式化定图案构件,其包括复数个可定址元件, 及能够根据一期望图案设定; - 一基板台,其系用以支撑一基板;及 - 一投射系统,其系用以传送该期望图案至该基板 之目标部份上;特征为该投射系统包括: 一微透镜阵列,其具有复数个微透镜及用以形成多 个源影像之阵列,该复数个微透镜对应至该可程式 定图案元件之该可定址元件;及 一投射子系统,其系用以投射该等源影像之该阵列 之影像至该基板上。 2.如申请专利范围第1项之装置,其中该照明系统发 送一实质上准直之照射光束至该微透镜阵列,其从 而形成该等源影像之阵列,及该可程式化定图案构 件系一选择性穿透装置,其位置接近该微透镜阵列 ,藉以设定该可程式化定图案构件之可定址元件以 阻挡该等源影像之各者。 3.如申请专利范围第2项之装置,其中该可程式化定 图案构件较佳靠近该等源影像之平面。 4.如申请专利范围第1项之装置,其中该投射系统尚 包括一第二投射子系统,其系用以投射该可程式化 定图案构件之影像至该微透镜阵列上。 5.如申请专利范围第4项之装置,其中该可程式化定 图案构件及该微透镜阵列具有不同间距及/或长宽 比,及该第二投射子系统具有适当之倍率或缩小率 以符合该可程式化定图案愿件之该可定址元件与 该微透镜阵列之多个微透镜。 6.如申请专利范围第1、2、3、4或5项之装置,其中 该等源影像系经由该微透镜阵列而投射至一球面 。 7.如申请专利范围第1,2,3,4或5项之装置,其中该投 射子系统系投射一源影像阵列为1:1或缩小之影像 。 8.一种元件制造方法,包括以下步骤: - 设置一基板,其至少部份藉由一放射敏感材料层 所覆盖; - 使用一照明系统而提供一照射之投射光束; - 根据一期望图案设定复数个可程式化定图案构 件之可定址元件; -使用一投射系统传送该期望图案至该放射敏感材 料层之目标部份上, 其特征为该投射系统包括: 一微透镜阵列,其具有复数个微透镜及用以形成该 等源影像之阵列,该复数个微透镜对应至该可程式 化定图案愿件之该可定址元件;及 一投射子系统,其系用以投射该等源影像之该阵列 之影像至该基板上。 图式简单说明: 图1绘示习知微影投射装置的光学系统; 图2绘示根据本发明之第一实施例的微影投射装置 ;及 图3绘示根据本发明之第一实施例的微影投射装置 。
地址 荷兰