| 发明名称 | 降低低密度校验编码的差错平底的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种低密度校验编码的方法，以解决现有的低密度校验编码方式在应用中存在其差错平底无法满足系统要求的问题；该方法为通过接收待编码的数据帧，并对每一个待编码的数据帧进行低密度校验编码后输出编码结果；其中，在每连续编码N个待编码的数据帧后输出一个校验帧，N为正整数。本发明还同时公开了一种编码装置。 | ||
| 申请公布号 | CN101030834A | 申请公布日期 | 2007.09.05 |
| 申请号 | CN200610058276.0 | 申请日期 | 2006.02.28 |
| 申请人 | 华为技术有限公司 | 发明人 | 朱维乐;敬龙江;顾庆水 |
| 分类号 | H04L1/00(2006.01);H03M13/11(2006.01) | 主分类号 | H04L1/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人 | 黄志华 |
| 主权项 | 1、一种降低低密度校验编码的差错平底的方法，其特征在于，包括如下步骤：接收待编码的数据帧；对所述数据帧进行低密度校验编码并输出，并且，在每连续编码N个所述待编码的数据帧后，对用于校验该N个数据帧的校验帧进行低密度校验编码并输出，N为正整数。 | ||
| 地址 | 518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||