发明名称 一种δ掺杂4H-SiC雪崩紫外光电探测器及其制备方法
摘要 一种δ掺杂4H-SiC雪崩紫外光电探测器及其制备方法,涉及一种紫外光电探测器。提供一种可独立控制倍增区厚度和面电荷浓度以及吸收区长度,消除雪崩器件中量子效率与响应时间的相互制约,优化器件性能的δ掺杂4H-SiC雪崩紫外光电探测器与制备方法。呈台面结构,设有n<SUP>+</SUP>型4H-SiC衬底,在衬底上从下至上依次外延生长n<SUP>+</SUP>型缓冲层、超低掺杂n<SUP>-</SUP>型层、δ掺杂n型层、低掺杂n<SUP>-</SUP>型层和高掺杂p<SUP>+</SUP>型层,超低掺杂n<SUP>-</SUP>型层、δ掺杂n型层和低掺杂n<SUP>-</SUP>型层共同构成有源层;设有至少3个台面,其中最下面的台面用于器件隔离并位于n<SUP>+</SUP>型缓冲层,其它台面全部位于器件有源层上;器件表面设有致密的氧化硅钝化膜,设p型和n型电极。
申请公布号 CN101030609A 申请公布日期 2007.09.05
申请号 CN200710008793.1 申请日期 2007.04.04
申请人 厦门大学 发明人 吴正云;朱会丽;陈厦平;张峰
分类号 H01L31/107(2006.01);H01L31/18(2006.01) 主分类号 H01L31/107(2006.01)
代理机构 厦门南强之路专利事务所 代理人 马应森
主权项 1.一种δ掺杂4H-SiC雪崩紫外光电探测器,其特征在于呈台面结构,设有n+型4H-SiC衬底,在衬底上从下至上依次外延生长n+型缓冲层、超低掺杂n-型层、δ掺杂n型层、低掺杂n-型层和高掺杂p+型层,超低掺杂n-型层、δ掺杂n型层和低掺杂n-型层共同构成有源层;设有至少3个台面,其中最下面的台面用于器件隔离并位于n+型缓冲层,其它台面全部位于器件有源层上;器件表面设有致密的氧化硅钝化膜,在p+型层上设有p型电极,在p型电极上沉积Ti/Au作为焊盘接触金属,在衬底背面设有n型电极。
地址 361005福建省厦门市思明南路422号