发明名称 Fingertester zum Prüfen von unbestückten Leiterplatten und Verfahren zum Prüfen unbestückter Leiterplatten mit einem Fingertester
摘要 Die vorliegende Erfindung betrifft einen Fingertester zum Prüfen von unbestückten Leiterplatten mit zumindest zwei Prüffingern (1), die jeweils eine Prüfsonde (2) besitzen, wobei oberhalb einer jeden Prüfsonde (2) je eine Detektionseinrichtung (20) zum optischen Erfassen der Position von zumindest einer Kontaktspitze der Prüfsonde (2) vorhanden ist. Die Detektionseinrichtungen (20) der zumindest zwei Prüfsonden (1) sind in unterschiedlichen vertikal beabstandeten Ebenen angeordnet, so dass zumindest Bereiche der Detektionseinrichtungen (20), die oberhalb der Prüffinger (2) angeordnet sind, vertikal fluchtend berührungslos übereinander positionierbar sind.
申请公布号 DE102006006255(A1) 申请公布日期 2007.08.23
申请号 DE200610006255 申请日期 2006.02.10
申请人 ATG TEST SYSTEMS GMBH 发明人 ROMANOV, VICTOR
分类号 G01R31/28;H05K3/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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