发明名称 采用三环法测量导电环接触电阻的方法
摘要 采用三环法测量导电环接触电阻的方法,属于电学测试计量领域,其特点在于:将导电环三环分为一组,将导电环旋转部分的三条引线短接,固定部分的两条引线分别接入恒定的电流信号,采用电压测试仪器测量另一条引线和接入信号的两条引线中任一引线两端间的电压,根据欧姆定律由测得电压值范围和接入电流值即可计算出导电环的接触电阻值范围,此电阻值范围即为导电环的动态接触电阻。本发明解决了目前导电环动态接触电阻测量工作中存在的导线缠绕问题,并且可以得到每一环的动态接触电阻。
申请公布号 CN101021558A 申请公布日期 2007.08.22
申请号 CN200710064688.X 申请日期 2007.03.23
申请人 中国科学院光电技术研究所 发明人 姜彬;范天泉;曹学东
分类号 G01R27/14(2006.01) 主分类号 G01R27/14(2006.01)
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 贾玉忠;卢纪
主权项 1、采用三环法测量导电环接触电阻的方法,其特征在于:(1)将导电环三环分为一组,将导电环旋转部分的三条引线短接;(2)固定部分的两条引线分别接入恒定的电流信号,采用电压测试仪器测量另一条引线和接入信号的两条引线中任一引线两端间的电压,根据欧姆定律由测得电压值范围和接入电流值即可计算出导电环的接触电阻值范围,此电阻值范围即为导电环的动态接触电阻。
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