发明名称 记录/再生方法、记录/再生装置,光记录媒体,以及记录此记录/再生方法之程式的电脑可读记录媒体
摘要 本发明提供一种记录/再生方法、记录/再生装置,光记录媒体,以及记录此记录/再生方法之程式的电脑可读记录媒体。该方法包括下列步骤:选择一个用来标示当将资料记录在记录媒体上时,是否执行缺陷管理的缺陷管理开启模式或缺陷管理关闭模式;如果选定的是缺陷管理开启模式,则在记录媒体上执行缺陷管理时,将资料记录在记录媒体中;以及如果选定的是缺陷管理关闭模式,则以不执行缺陷管理的方式,将资料记录在记录媒体中。
申请公布号 TWI285883 申请公布日期 2007.08.21
申请号 TW093110323 申请日期 2004.04.14
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 黄盛;高祯完
分类号 G11B20/10(2006.01);G11B20/18(2006.01);G11B7/004(2006.01) 主分类号 G11B20/10(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 1.一种将资料记录在一记录媒体上之方法,该方法 包括: 在一缺陷管理开启模式与一缺陷管理关闭模式之 间,选择一缺陷管理模式,以使得该选定模式可标 示是否将在该记录媒体上执行缺陷管理; 如果选定的是该缺陷管理开启模式,则当在该记录 媒体上执行缺陷管理时,将该资料记录在该记录媒 体上;以及 如果选定的是该缺陷管理关闭模式,则以不执行缺 陷管理的方式,将该资料记录在该记录媒体上, 其中在该缺陷管理开启模式下记录该资料的该步 骤包括将该记录媒体初始化成该缺陷管理开启模 式,其中该初始化动作包括: 指定一备用区给该记录媒体其中用来替代在该记 录媒体的该资料区中产生一缺陷的一资料区;以及 将包括所指定备用区的资讯的一暂时缺陷管理资 讯,记录在该记录媒体的一暂时缺陷管理区中。 2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中在该缺陷 管理开启模式下记录该资料的该步骤更加包括: 将用来替代在该资料区中所产生的该缺陷的一缺 陷区块的一替代区块,以复数个预定动作为单位, 记录在该备用区中;以及 以该些预定动作为单位,更新在该暂时缺陷管理区 中,当成该暂时缺陷管理资讯,且用于缺陷管理的 该缺陷资讯与该缺陷管理资讯。 3.如申请专利范围第2项所述之方法,其中在该缺陷 管理开启模式下记录该资料的该步骤更加包括: 改变该备用区的一尺寸;以及 更新该暂时缺陷管理资讯,以使其包括该变动过的 备用区的尺寸,并且将该更新过的暂时缺陷管理资 讯,记录在该暂时缺陷管理区中。 4.如申请专利范围第2项所述之方法,其中在该缺陷 管理开启模式下记录该资料的该步骤更加包括将 该暂时缺陷开启模式,转换成该暂时缺陷关闭模式 。 5.如申请专利范围第4项所述之方法,其中转换成该 暂时缺陷关闭模式的该步骤包括: 将该记录媒体重初始化成该缺陷管理关闭模式;以 及 在将该记录媒体重初始化成该缺陷管理关闭模式 之后,以不执行缺陷管理的方式,将该资料记录在 该记录媒体上。 6.如申请专利范围第5项所述之方法,其中重初始化 成该缺陷管理关闭模式的该步骤包括: 将用来标示该缺陷管理关闭模式的一指标,记录在 该暂时缺陷管理区中;以及 将在该暂时缺陷管理区中最后更新的该暂时缺陷 管理资讯,记录在该记录媒体的一缺陷管理区中。 7.如申请专利范围第2项所述之方法,更加包括终结 该记录媒体。 8.如申请专利范围第7项所述之方法,其中终结该记 录媒体的该步骤包括: 将用来标示终结该记录媒体的一终结旗标,记录在 该暂时缺陷管理区中; 将包括在该暂时缺陷管理区中最后更新的该缺陷 资讯与该缺陷管理资讯的该暂时缺陷管理资讯,记 录在该记录媒体的一缺陷管理区中;以及 以一预定资料,填满该暂时缺陷管理区中还未记录 资料的一剩余区。 9.如申请专利范围第1项所述之方法,其中在该缺陷 管理关闭模式下记录该资料的该步骤包括: 以复数个动作为单位,将该资料记录在该记录媒体 的一资料区中;以及 更新在该记录媒体的一暂时缺陷管理区中,根据该 记录资料的一记录管理资讯。 10.如申请专利范围第9项所述之方法,更加包括终 结该记录媒体。 11.如申请专利范围第I0项所述之方法,其中终结该 记录媒体包括: 将用来标示该记录媒体为已终结的一终结旗标,记 录在该暂时缺陷管理区中; 将在该暂时缺陷管理区中最后更新的该记录管理 资讯,记录在该记录媒体的一缺陷管理区中;以及 以一预定资料,填满该暂时缺陷管理区中还未记录 资料的一剩余区。 12.一种再生记录在一记录媒体上的资料之方法,该 记录媒体具有连续排列的一导入区、一资料区、 以及一导出区,且该方法包括: 从在该导入区或该导出区中的一暂时缺陷管理区 中,读取用来标示是否要在该记录媒体上执行缺陷 管理的一缺陷管理开启/关闭模式资讯,且该资讯 系用来更新在该资料区中所产生的一缺陷的资讯, 以及对每一该些预定动作,作缺陷管理的一缺陷管 理资讯;以及 根据该所读取的缺陷管理开启/关闭模式资讯,读 取记录在该资料区中的该资料。 13.如申请专利范围第12项所述之方法,更加包括如 果所读取的暂时缺陷开启/关闭模式资讯为一暂时 缺陷开启模式,则从该暂时缺陷管理区中,读取最 后更新的该缺陷资讯与最后更新的该缺陷管理资 讯。 14.如申请专利范围第13项所述之方法,更加包括: 从该暂时缺陷管理区中,读取用来标示该记录媒体 为已终结的一终结旗标;以及 从该记录媒体的一缺陷管理区中,读取最后更新的 该缺陷资讯与最后更新的该缺陷管理资讯。 15.如申请专利范围第12项所述之方法,更加包括如 果所读取的暂时缺陷开启/关闭模式资讯为一暂时 缺陷关闭模式,则从该暂时缺陷管理区中,读取最 后更新的该记录管理资讯。 16.如申请专利范围第15项所述之方法,更加包括: 从该暂时缺陷管理区中,读取用来标示该记录媒体 为已终结的该终结旗标;以及 从该记录媒体的一缺陷管理区中,读取最后更新的 该缺陷资讯与最后更新的该缺陷管理资讯。 17.一种记录或再生一记录媒体资料之装置,该装置 包括: 一记录/读取单元,用来转换该记录媒体的该资料; 以及 一控制器,从一缺陷管理开启模式与一缺陷管理关 闭模式中,选择一缺陷管理模式,且该选定的缺陷 管理模式系用来标示当在将资料记录在该记录媒 体上时,是否执行缺陷管理,如果选定的是该缺陷 管理开启模式,控制该记录/读取单元,当在该记录 媒体上执行缺陷管理时,将该资料记录在该记录媒 体上,如果选定是该缺陷管理关闭模式,则控制该 记录/读取单元,以不执行缺陷管理的方式,将该资 料记录在该记录媒体上, 其中当所选定的是该缺陷管理开启模式时,该控制 器将该记录媒体初始化成该缺陷管理开启模式,而 且在该初始化期间,该控制器指定一备用区给用来 替代在该记录媒体的一资料区中所产生的一缺陷 的该资料区,并且控制该记录/读取单元,将所指定 的备用区的资讯的一暂时缺陷管理资讯,记录在该 记录媒体的一暂时缺陷管理区中。 18.如申请专利范围第17项所述之装置,其中该控制 器更加控制该记录/读取单元,以每一该些预定动 作为单位,将用来替代在该资料区中所产生的该缺 陷的一缺陷区块的一替代区块,记录在该备用区中 ,并且以该些预定动作为单位,更新在该暂时缺陷 管理区中,当成该暂时缺陷管理资讯的该缺陷资讯 与作为缺陷管理的该缺陷管理资讯。 19.如申请专利范围第18项所述之装置,其中该控制 器更加包括改变该备用区的一尺寸,并且控制该记 录/读取单元,更新该暂时缺陷管理资讯,以使其包 括该变动过的备用区的尺寸,并且将该更新过的暂 时缺陷管理资讯,记录在该暂时缺陷管理区中。 20.如申请专利范围第18项所述之装置,其中该控制 器更加包括将该暂时缺陷开启模式,转换成该暂时 缺陷关闭模式。 21.如申请专利范围第20项所述之装置,其中该控制 器更加包括将该记录媒体重初始化成该缺陷管理 关闭模式,并且在转换成该缺陷管理关闭模式之后 ,控制该记录/读取单元,以不执行缺陷管理的方式, 将该资料记录在该记录媒体上。 22.如申请专利范围第21项所述之装置,其中该控制 器更加包括控制该记录/读取单元,将用来标示该 缺陷管理关闭模式的一指标,记录在该暂时缺陷管 理区中,以及将在该暂时缺陷管理区中最后更新的 一暂时缺陷管理资讯,记录在该记录媒体的一缺陷 管理区中。 23.如申请专利范围第18项所述之装置,其中该控制 器更加包括控制该记录/读取单元,将用来标示终 结该记录媒体的一终结旗标,记录在该暂时缺陷管 理区中,将其中包括在该暂时缺陷管理区中最后更 新的该缺陷资讯与该缺陷管理资讯的一暂时缺陷 管理资讯,记录在该记录媒体的一碟片管理区中, 并且以一预定资料,填满该暂时缺陷管理区中还未 记录资料的一剩余区。 24.如申请专利范围第17项所述之装置,其中: 该控制器控制该记录/读取单元,以该些预定动作 为单位,将该资料记录在该记录媒体的一资料区中 ,并且当选定该缺陷管理关闭模式时,更新在该记 录媒体的一暂时缺陷管理区中的根据该资料记录 的一记录管理资讯,以及 该记录管理资讯并未包含该缺陷管理资讯。 25.如申请专利范围第24项所述之装置,其中该控制 器控制该记录/读取单元, 将用来标示该记录媒体为已终结的一终结旗标,记 录在该暂时缺陷管理区中, 将在该暂时缺陷管理区中最后更新的该记录管理 资讯,记录在该记录媒体的一碟片管理区中,以及 以一预定资料,填满在该暂时缺陷管理区中还未记 录资料的一剩余区。 26.一种记录或再生一记录媒体资料之装置,该记录 媒体具有顺序排列的一导入区、一资料区、以及 一导出区,且该装置包括: 一读取单元,用来转换该记录媒体的该资料;以及 一控制器,控制该读取单元,从由该导入区或该导 出区所提供的一暂时缺陷管理区中,读取一暂时缺 陷开启/关闭模式资讯,其中该模式可选择性地标 示是否已在该记录媒体上执行过缺陷管理,藉以更 新产生在该资料区中的一缺陷的资讯,以及对复数 个预定动作单位的每一预定动作单位,执行缺陷管 理所用的一缺陷管理资讯,并且控制该读取单元, 根据所读取的该缺陷管理开启/关闭模式资讯,读 取记录在该资料区中的该资料。 27.如申请专利范围第26项所述之装置,其中如果所 读取的该缺陷管理开启/关闭模式资讯为一缺陷管 理开启模式,则该控制器更加控制该读取单元,从 该暂时缺陷管理区中,读取最后更新的该缺陷资讯 与最后更新的该缺陷管理资讯。 28.如申请专利范围第27项所述之装置,其中该控制 器控制该读取单元,从该暂时缺陷管理区中,读取 用来标示该记录媒体为已终结的一终结旗标,并且 从该记录媒体的一缺陷管理区中,读取最后更新的 该缺陷资讯与最后更新的该缺陷管理资讯。 29.如申请专利范围第26项所述之装置,其中如果所 读取的该缺陷管理开启/关闭模式资讯为一缺陷管 理关闭模式,则该控制器控制该读取单元,从该暂 时缺陷管理区中,读取最终的记录管理资讯。 30.如申请专利范围第29项所述之装置,其中该控制 器控制该读取单元,从该暂时缺陷管理区中,读取 用来标示该记录媒体为已终结的一终结旗标,并且 从该记录媒体的一缺陷管理区中,读取最后更新的 该缺陷资讯与最后更新的该缺陷管理资讯。 31.一种适用于一记录或再生装置之光记录媒体,该 光记录媒体包括: 在该光记录媒体上顺序排列的一导入区、一资料 区、以及一导出区; 一暂时缺陷管理区,用来记录在该资料区中所产生 的一缺陷的资讯以及作为缺陷管理的一暂时缺陷 管理资讯,且该暂时缺陷管理区是在导入区或导出 区中;以及 一缺陷管理区,用来记录一最终缺陷资讯与一最终 缺陷管理资讯,且该缺陷管理区是在导入区或导出 区中, 其中,在该暂时缺陷管理区中的该暂时缺陷管理资 讯包括一缺陷管理开启/关闭模式资讯,且该资讯 系用来标示当在该记录媒体上执行缺陷管理时,将 该资料记录在该记录媒体上,或是以不执行缺陷管 理的方式,将该资料记录在该记录媒体上。 32.如申请专利范围第31项所述之光记录媒体,其中 如果该缺陷管理开启/关闭模式资讯系标示该装置 将该记录媒体初始化成一缺陷管理开启模式: 该媒体更加包括一备用区,用来替代一替代区,且 该替代区系用来替代由该装置以复数个预定动作 单位,在该记录媒体的该资料区中所产生的一缺陷 的一缺陷区块, 该缺陷管理区为空白,而且 该暂时缺陷管理区进入一状态,在该状态中,该装 置可以该些预定动作为单位,更新该缺陷资讯与作 为缺陷管理的该缺陷管理资讯。 33.如申请专利范围第32项所述之光记录媒体,其中 如果该装置将该记录媒体的该备用区的尺寸改变, 而且该记录媒体为重初始化,则该装置会将被更动 过的该备用区的尺寸,记录在该暂时缺陷管理区中 。 34.如申请专利范围第32项所述之光记录媒体,其中 如果该缺陷管理开启/关闭模式资讯,系标示该装 置将该记录媒体重初始化成一缺陷管理关闭模式, 则该装置会将用来标示该缺陷管理关闭模式的资 讯,记录在该暂时缺陷管理区中,而且该装置会将 在该暂时缺陷管理区中最后更新的该暂时缺陷管 理资讯,记录在该缺陷管理区中。 35.如申请专利范围第32项所述之光记录媒体,其中 当该记录媒体为已终结时,用来标示该记录媒体为 已终结的一终结旗标,会记录在该暂时缺陷管理区 中,最后记录在该暂时缺陷管理区中的一暂时缺陷 管理资讯,会记录在该缺陷管理区中,而且会用一 预定资料,填满该暂时缺陷管理区中还未记录资料 的一剩余区。 36.如申请专利范围第31项所述之光记录媒体,其中 如果该缺陷管理开启/关闭模式资讯,系标示该装 置将该记录媒体初始化成该缺陷管理关闭模式,则 该缺陷管理区为空白,而且该暂时缺陷管理区会进 入一状态,在该状态中,该装置会以预定动作为单 位,更新根据记录在该资料区中的该资料的该记录 管理资讯。 37.一种其上可记录由一电脑执行的复数个处理指 令之电脑可读媒体,且该些处理指令系用来执行一 种将资料记录在一记录媒体上的方法,且该方法包 括: 在用来标示是否在该记录媒体上执行缺陷管理的 一缺陷管理开启模式与一缺陷管理关闭模式之间, 选择一缺陷管理模式; 如果选定的是该缺陷管理开启模式,则当在该记录 媒体上执行缺陷管理时,将该资料记录在该记录媒 体上;以及 如果选定的是该缺陷管理关闭模式,则以不执行缺 陷管理的方式,将该资料记录在该记录媒体上, 其中在该缺陷管理开启模式下记录该资料的步骤 包括将该记录媒体初始化成该缺陷管理开启模式, 其中该初始化动作包括: 指定一备用区给该记录媒体其中用来替代在该记 录媒体的该资料区中产生一缺陷的一资料区;以及 将包括所指定备用区的资讯的一暂时缺陷管理资 讯,记录在该记录媒体的一暂时缺陷管理区中。 38.一种其上可记录由一电脑执行的复数个处理指 令之电脑可读媒体,该些处理指令系用来执行一种 再生记录在一记录媒体上的资料的方法,该记录媒 体具有顺序排列的一导入区、一资料区、以及一 导出区,且该方法包括: 从该导入区或该导出区所提供的一暂时缺陷管理 区中,读取用来标示是否在该记录媒体上执行缺陷 管理的一缺陷管理开启/关闭模式资讯,藉以在每 一预定动作中,更新在该资料区中所产生的一缺陷 的相关资讯与用来管理缺陷的一缺陷管理资讯;以 及 根据所读取的该缺陷管理开启/关闭模式资讯,读 取记录在该资料区中的该资料。 39.一种将资料记录在一记录媒体之方法,该方法包 括: 侦测在一缺陷管理开启模式与一缺陷管理关闭模 式之间,所选择的一缺陷管理模式,其中在该缺陷 管理开启模式中,会执行缺陷管理,以管理在该记 录媒体上产生的复数个缺陷,而在该缺陷管理关闭 模式中,会以不执行缺陷管理的方式,管理在该记 录媒体上产生的该些缺陷;以及 根据所选定的该缺陷管理模式,转换该记录媒体的 该资料,其中 当侦测到该缺陷管理开启模式时,将该记录媒体初 始化成该缺陷管理开启模式,其中该初始化动作包 括: 指定一备用区给该记录媒体其中用来替代在该记 录媒体的该资料区中产生一缺陷的一资料区;以及 将包括所指定备用区的资讯的一暂时缺陷管理资 讯,记录在该记录媒体的一暂时缺陷管理区中。 40.如申请专利范围第39项所述之方法,其中侦测该 资讯包括经由一输入装置接收该资讯,以决定所选 定的该缺陷管理模式。 41.如申请专利范围第39项所述之方法,其中侦测该 资讯包括从执行该转换的一装置接收该资讯,以决 定所选定的该缺陷管理模式。 42.如申请专利范围第41项所述之方法,其中转换该 资料包括记录该资料,而且该方法更加包括如果该 侦测到的资讯为该缺陷管理开启模式,则使用缺陷 管理记录该资料,以管理在记录该资料期间所发生 的该些缺陷。 43.如申请专利范围第39项所述之方法,其中转换该 资料包括记录该资料,而且该方法更加包括如果该 侦测到的资讯为该缺陷管理关闭模式,则不使用缺 陷管理记录该资料,以管理在记录该资料期间所发 生的该些缺陷。 44.如申请专利范围第39项所述之方法,其中: 转换该资料包括根据所选定的该缺陷管理模式,记 录该资料, 所选定的该缺陷管理模式为该缺陷管理开启模式 及该缺陷管理关闭模式的其中之一,以及 该方法更加包括,在记录该资料之后, 侦测从该缺陷管理开启模式及该缺陷管理关闭模 式中所选定的另一缺陷管理模式,以及 根据所侦测到的该另一缺陷管理模式,转换附加资 料。 45.如申请专利范围第44项所述之方法,其中: 该记录媒体包括一暂时缺陷管理区,且该暂时缺陷 管理区记录在终结该碟片之前的该暂时缺陷资讯 与用来管理该些缺陷的该暂时缺陷管理资讯,以及 一最终缺陷管理区,且该最终缺陷管理区包括该暂 时缺陷资讯与在终结该碟片期间所记录的该暂时 缺陷管理资讯,以及 该方法更加包括:在记录该资料之后,如果所侦测 到的该另一缺陷管理模式为该缺陷管理关闭模式, 则 在终结该记录媒体之前,将该暂时缺陷资讯与该所 记录资料的该暂时缺陷管理资讯,记录在该最终缺 陷管理区中,以及 在该最终缺陷管理区中非记录该暂时缺陷资讯与 该暂时缺陷管理资讯的该区的该些区中,填入资料 。 46.一种用来记录或再生一记录媒体资料之装置,该 装置包括: 一转换器,用来转换该记录媒体的该资料;以及 一控制器,用来侦测在一缺陷管理开启模式与一缺 陷管理关闭模式之间,所选择的一缺陷管理模式, 其中在该缺陷管理开启模式中,会执行缺陷管理, 以管理在该记录媒体上产生的复数个缺陷,而在该 缺陷管理关闭模式中,会以不执行缺陷管理的方式 ,管理在该记录媒体上产生的该些缺陷,并且控制 该转换器,根据所选定的该缺陷管理模式,转换该 资料,其中 当侦测到该缺陷管理开启模式时,该控制器藉由指 定一备用区给该记录媒体其中用来替代在该记录 媒体的该资料区中产生一缺陷的一资料区以及藉 由将包括所指定备用区的资讯的一暂时缺陷管理 资讯记录在该记录媒体的一暂时缺陷管理区中,来 将该记录媒体初始化成该缺陷管理开启模式。 47.如申请专利范围第46项所述之装置,更加包括一 输入单元,且该控制器系透过该输入单元,侦测所 选定的该缺陷管理模式。 48.如申请专利范围第46项所述之装置,其中为侦测 该资讯以决定所选定的该缺陷管理模式,该控制器 撷取储存在该装置中,用来标示选定该缺陷管理模 式的一预定资讯。 49.如申请专利范围第46项所述之装置,其中如果该 缺陷管理模式为该缺陷管理开启模式,则该控制器 控制该转换器,使用用来管理在记录该资料期间所 发生的该些缺陷的缺陷管理,记录该资料。 50.如申请专利范围第46项所述之装置,其中如果该 缺陷管理模式为该缺陷管理关闭模式,则该控制器 控制该转换器,不使用用来管理在记录该资料期间 所发生的该些缺陷的缺陷管理,记录该资料。 51.如申请专利范围第46项所述之装置,其中: 该控制器控制该转换器,根据所侦测到的该缺陷管 理模式,记录该资料,其中所侦测到的该缺陷管理 模式为该缺陷管理开启模式与该缺陷管理关闭模 式的其中之一, 该控制器侦测从该缺陷管理开启模式与该缺陷管 理关闭模式的其中之一中选出的另一缺陷管理模 式,以及 该控制器控制该转换器,根据所侦测的该另一缺陷 管理模式,转换附加资料。 52.如申请专利范围第51项所述之装置,其中: 该记录媒体包括一暂时缺陷管理区,且该暂时缺陷 管理区记录在终结该碟片之前的该暂时缺陷资讯 与用来管理该些缺陷的该暂时缺陷管理资讯,以及 一最终缺陷管理区,且该最终缺陷管理区包括该暂 时缺陷资讯与在终结该碟片期间所记录的该暂时 缺陷管理资讯,以及 该控制器更加包括在记录该资料之后,而且所侦测 到的该另一缺陷管理模式为该缺陷管理关闭模式 时,控制该转换器,在终结该记录媒体之前,将该暂 时缺陷资讯与该所记录资料的该暂时缺陷管理资 讯,记录在该最终缺陷管理区中,以及在该最终缺 陷管理区中非记录该暂时缺陷资讯与该暂时缺陷 管理资讯的该区的该些区中,填入资料。 53.一种用于一记录或再生装置之记录媒体,该记录 媒体包括: 一资料区,且该资料系记录在该记录媒体的该资料 区上,以及 一缺陷管理区,包括在一缺陷管理开启模式与一缺 陷管理关闭模式之间,所选择的一缺陷模式资讯, 其中在该缺陷管理开启模式中,会执行缺陷管理, 以管理在该记录媒体上产生的复数个缺陷,而在该 缺陷管理关闭模式中,会以不执行缺陷管理的方式 ,管理在该记录媒体上产生的该些缺陷, 其中,该装置根据在该缺陷模式资讯中的该所选定 的缺陷管理模式,将该资料转换至该资料区,且 当该缺陷模式资讯选择在该缺陷管理开启模式时, 一备用区被指定给该记录媒体其中用来替代在该 记录媒体的该资料区中产生一缺陷的一资料区,以 及包括所指定备用区的资讯的一暂时缺陷管理资 讯被记录在该记录媒体的一暂时缺陷管理区中。 54.如申请专利范围第53项所述之记录媒体,其中: 该缺陷管理区更加包括: 一暂时缺陷管理区,用来记录在该资料区中所产生 的该些缺陷的该暂时缺陷资讯,以及用来管理该些 缺陷的该暂时缺陷管理资讯;以及 一最终缺陷管理区,用来记录该缺陷的一最终缺陷 资讯,以及一最终暂时缺陷管理资讯,以及 记录在该暂时缺陷管理区中的该暂时缺陷管理资 讯,包括该缺陷模式资讯。 55.如申请专利范围第54项所述之记录媒体,其中: 该暂时缺陷管理区更加包括用来标示该记录媒体 是否已经终结的一终结资讯,以及 如果该终结资讯对该装置标示该记录媒体并未终 结,而且该缺陷模式资讯对该装置标示选定该缺陷 管理关闭模式,则会填满该最终缺陷管理区,以避 免该装置将该最终缺陷资讯与该最终缺陷管理资 讯,记录在该最终缺陷管理区中。 56.如申请专利范围第54项所述之记录媒体,其中如 果该终结资讯对该装置标示该记录媒体并未终结, 而且该缺陷模式资讯对该装置标示选定该缺陷管 理关闭模式,则该最终缺陷管理区会包括在选择该 缺陷管理关闭模式之前,记录在该暂时缺陷管理区 中的一最后记录的暂时缺陷资讯,以及一最后记录 的暂时缺陷管理资讯。 57.如申请专利范围第54项所述之记录媒体,其中如 果该终结资讯对该装置标示该记录媒体并未终结, 而且该缺陷模式资讯对该装置标示选定该缺陷管 理关闭模式,则该暂时缺陷资讯与该暂时缺陷管理 资讯,并不包含在该最终缺陷管理区中。 图式简单说明: 第1图系绘示根据本发明一实施例的一个只写入一 次记录媒体的状态图。 第2图系绘示根据本发明一实施例的一个单记录层 记录媒体的资料结构图。 第3图系绘示根据本发明一实施例的一个双记录层 记录媒体的资料结构图。 第4图系绘示根据本发明一实施例的只写入一次记 录媒体区域的细部资料结构图。 第5图系绘示一个用来说明记录在根据本发明一实 施例的一个暂时碟片管理区中的暂时碟片管理资 讯的示意图。 第6图系绘示一个用来说明记录在根据本发明一实 施例的一个暂时碟片管理区中的暂时碟片管理资 讯的示意图。 第7图系绘示一个根据本发明一实施例的暂时碟片 管理资讯的一个暂时缺陷定义结构(TDDS)#i的详细 资料结构图。 第8图系绘示一个根据本发明一实施例的暂时碟片 管理资讯的一个空白位元映射表(SBM)#i的详细资料 结构图。 第9图系绘示一个根据本发明一实施例的暂时碟片 管理资讯的一个暂时缺陷列表(TDFL)#i的详细资料 结构图。 第10图系绘示一个第9图所示的缺陷列表项目#i的 资料结构图。 第11图系绘示一个根据本发明一实施例的记录/再 生装置的方块图。 第12A图到第12E图系绘示流程图,用来说明根据本发 明一实施例,在暂时缺陷管理开启模式或缺陷管理 关闭模式中使用只写入一次记录媒体的一种方法 。 第13图系绘示一个用来说明根据本发明一实施例 的一种缺陷管理方法的示意图。
地址 韩国