发明名称 光电化学蚀刻方法及其装置
摘要 本发明系关于一种光电化学蚀刻方法及实现该方法之装置。首先,提供一基材,且该基材之表面设有一图案化遮罩,接着将该基材浸润于含氧化剂之一蚀刻液中,并施予一间歇性能量,以进行一蚀刻反应。
申请公布号 TW200731018 申请公布日期 2007.08.16
申请号 TW095104123 申请日期 2006.02.07
申请人 国立清华大学 发明人 黄忠民;黄惠良
分类号 G03F7/20(2006.01) 主分类号 G03F7/20(2006.01)
代理机构 代理人 许锺迪
主权项
地址 新竹市光复路2段101号