发明名称 尺寸的量测方法与设有此方法的光学量测系统
摘要 一种尺寸的量测方法,适用于一光学量测系统,以量测物体的一关键尺寸,包括:利用该光学量测系统,量测多个样本物体以得到多个影像。每一该些样本物体有一栅状图案,该些栅状图案有至少一节距,且在相同的该节距下有多个线宽。利用一演算法分析该些影像,以得到对应在该节距的该些线宽的多个特征分布。从该些特征分布,决定每一该些特征分布的一特征值,其中该特征值会随该些线宽有一变化曲线。量测一待测物体,得到对应的一量测特征值。根据该变化曲线,得到对应该量测特征值的一关键线宽。
申请公布号 TW200730795 申请公布日期 2007.08.16
申请号 TW095104801 申请日期 2006.02.10
申请人 财团法人工业技术研究院;安格盛光电科技股份有限公司 ACCENT OPTICAL TECHNOLOGIES INC. 美国 发明人 刘安顺;顾逸霞;史密斯 奈吉
分类号 G01B11/14(2006.01) 主分类号 G01B11/14(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹县竹东镇中兴路4段195号