发明名称 | 半导体曝光方法与操作半导体曝光装置的方法 | ||
摘要 | 一种半导体曝光方法适于利用一曝光机台对一晶片进行曝光。这种曝光机台至少是由一曝光镜头、用来承载晶片的一承载台以及一液体循环装置构成,其中液体循环装置在曝光期间于曝光镜头与晶片之间供应一液体,其特征在于曝光前,利用至少一对准光源对承载台进行一对准操作,其中对准光源具有一特定波长,使液体挥发时对对准光源的影响降至最低,以防止液体影响前述对准操作。 | ||
申请公布号 | TW200731020 | 申请公布日期 | 2007.08.16 |
申请号 | TW095105011 | 申请日期 | 2006.02.15 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 林思闽;李修申 |
分类号 | G03F7/20(2006.01);G03F9/00(2006.01) | 主分类号 | G03F7/20(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |