发明名称 |
半导体晶圆测试中所使用的待测装置阵列之布局 |
摘要 |
一种形成在使用于晶圆测试的半导体晶圆上之待测装置的布局,包含第一阵列的待测装置,以及形成而与第一阵列相邻的第一焊垫组。第一焊垫组包含一闸极加强垫、一源极垫、以及一汲极垫。第一阵列之待测装置中的每一个系连接至第一焊垫组的闸极垫。第一阵列之待测装置中的每一个系连接至第一焊垫组的源极垫。第一阵列之待测装置中的每一个系连接至第一焊垫组的汲极垫。 |
申请公布号 |
TW200731442 |
申请公布日期 |
2007.08.16 |
申请号 |
TW095136743 |
申请日期 |
2006.10.03 |
申请人 |
PDF解析股份有限公司 |
发明人 |
克里斯多夫 贺斯;安格鲁 洛斯尼;史帝芬诺 托尼洛;麦克 史奎西瑞尼;麦克 奎伦塔利 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01);G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
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地址 |
美国 |