发明名称 半导体晶圆测试中所使用的待测装置阵列之布局
摘要 一种形成在使用于晶圆测试的半导体晶圆上之待测装置的布局,包含第一阵列的待测装置,以及形成而与第一阵列相邻的第一焊垫组。第一焊垫组包含一闸极加强垫、一源极垫、以及一汲极垫。第一阵列之待测装置中的每一个系连接至第一焊垫组的闸极垫。第一阵列之待测装置中的每一个系连接至第一焊垫组的源极垫。第一阵列之待测装置中的每一个系连接至第一焊垫组的汲极垫。
申请公布号 TW200731442 申请公布日期 2007.08.16
申请号 TW095136743 申请日期 2006.10.03
申请人 PDF解析股份有限公司 发明人 克里斯多夫 贺斯;安格鲁 洛斯尼;史帝芬诺 托尼洛;麦克 史奎西瑞尼;麦克 奎伦塔利
分类号 H01L21/66(2006.01);G01R31/28(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 美国
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