发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zur hochauflösenden Abbildung von Prüfobjekten mittels elektromagnetischer Wellen, insbesondere zur Kontrolle von Personen auf verdächtige Gegenstände |
摘要 |
Zur Abbildung von Prüfobjekten mittels elektromagnetischer Wellen, insbesondere von Millimeterwellen, wird das Prüfobjekt mit den elektromagnetischen Wellen beleuchtet, die gestreuten Wellen empfangen und für eine bildhafte Darstellung des Prüfobjekts nach dem Prinzip des "synthetic aperture radar" (SAR) ausgewertet. Um in kurzer Zeit einen möglichst großen Bereich mit hoher Auflösung abbilden zu können, werden nach der Erfindung die Phasenzentren der Sende- und Empfangsantennen auf einer Kreisbahn parallel zu den jeweiligen digitalen Fokusebenen des Abbildungssystems bewegt und gleichzeitig in einer weiteren Richtung parallel zu der jeweiligen Fokusebene linear verschoben. Bevorzugt wird das Verfahren zur Kontrolle von Personen auf verdächtige Gegenstände, beispielsweise zur Kontrolle von Flugpassagieren auf einem Flughafen, angewendet.
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申请公布号 |
DE102006006962(A1) |
申请公布日期 |
2007.08.16 |
申请号 |
DE200610006962 |
申请日期 |
2006.02.14 |
申请人 |
SMITHS HEIMANN GMBH |
发明人 |
GUMBMANN, FRANK;SCHMIDT, LORENZ-PETER;TRAN, HUE PHAT;JECK, MICHAEL;WEINZIERL, JOCHEN |
分类号 |
G01S13/90;G01S13/89;H01Q21/00 |
主分类号 |
G01S13/90 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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