发明名称 INTERFEROMETRO DE DIFRACCION POR ORIFICIO, IDO, PARA INSPECCION Y MEDIDA DE COMPONENTES OPTICOS OFTALMICOS.
摘要 Interferómetro de difracción por orificio, IDO, para inspección y medida de componentes ópticos oftálmicos, que comprende una fuente de radiación (1), un sistema de lentes (3), un soporte adecuado a cada tipo de componente oftálmico bajo test (4), una lente focalizadora (5), una lámina semitransparente con un orificio (6) y un sistema de adquisición de imágenes (10). El orificio genera una onda cuasi-esférica de referencia que interfiere con la porción del haz que pasa por fuera del mismo. El patrón de interferencia proporciona las características ópticas del componente, incluyendo defectos. Debido a que el tamaño del orificio de la lámina semitransparente es mayor que el limitado por difracción de la onda que sobre él incide, el interferómetro resulta robusto y de fácil alineamiento.
申请公布号 ES2279665(A1) 申请公布日期 2007.08.16
申请号 ES20050000019 申请日期 2004.12.23
申请人 UNIVERSIDADE DE SANTIAGO DE COMPOSTELA 发明人 ACOSTA PLAZA EVA;CHAMADOIRA HERMIDA SARA
分类号 G01B9/02 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人
主权项
地址