一种存储器辐照测试方法以及实现该方法的装置

摘要

本发明为一种存储器辐照测试方法以及实现该方法的装置，其包括：辐射源、电平转换电路、主控单元、数据输入单元以及系统配置和处理单元。用以实现对存储器件的动态辐照测试，首先进行初始化操作，对至少一被测存储器件写入指定数据，然后开启辐射源对被测存储器件进行规定强度、规定距离、规定时间的辐照；在测试过程中根据特定的读写模式向所述被测存储器件读出数据/写入数据；实时的将被测存储器件的实际输出值和预期值进行对比，判断其是否正确；一旦出现错误数据，立刻记录其失效信息；一次实验就能找到被测存储器件失效的临界点。从而达到整个过程都在同步动态记录，减少了实验次数，节约测试成本的目的。

主权项

1、一种存储器辐照测试方法，用以实现对存储器件的动态辐照测试，其特征在于：进行初始化操作，对至少一被测存储器件写入指定数据；开启辐射源对被测存储器件进行规定强度、规定距离、规定时间的辐照；在辐照过程中，根据特定的读写模式向所述被测存储器件读出数据/写入数据；实时的将被测存储器件的实际输出值和预期值进行对比，判断其是否正确；一旦出现错误数据，立即记录其失效信息；一次实验就能找到被测存储器件失效的临界点。