发明名称 | 电连接器失效率的加速验证试验方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种电连接器失效率的加速验证试验方法。首先把贮存温度水平T<SUB>0</SUB>下的失效率λ(t)转化为试验温度水平T<SUB>i</SUB>下的失效率λ′(t);然后将试验温度水平T<SUB>i</SUB>下与贮存温度水平T<SUB>0</SUB>下失效率的鉴别比d的比较,得到其鉴别比相等,表明可以将贮存温度水平T<SUB>0</SUB>下的失效率验证试验方案作为试验温度水平T<SUB>i</SUB>下的加速验证试验方案;接着导出试验温度水平T<SUB>i</SUB>下的加速验证试验方案与贮存温度水平T<SUB>0</SUB>下的抽样验证试验方案中的截尾时间的关系为τ′=τ/α<SUB>Ti~T0</SUB>,再次取定试验温度水平T<SUB>i</SUB>,可以得到截尾时间关系式中的加速系数值α<SUB>Ti~T0</SUB>,从而确定试验温度水平T<SUB>i</SUB>下的截尾时间。本发明对电连接器实行以失效率为验证指标、以温度为加速因子的定时截尾加速验证试验能在短时间内可以评定Y11X电连接器的贮存可靠性。 | ||
申请公布号 | CN101017189A | 申请公布日期 | 2007.08.15 |
申请号 | CN200710067182.4 | 申请日期 | 2007.02.06 |
申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 陈文华;钱萍;崔杰;卢献彪;周升俊 |
分类号 | G01R31/00(2006.01) | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) |
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 林怀禹 |
主权项 | 1、电连接器失效率的加速验证试验方法,其特征在于该方法的步骤如下:1)在高于贮存温度水平下进行验证试验,一般电连接器的贮存温度水平为T0=25℃;为了制定出高于贮存温度水平T0的加速验证试验方案,在贮存寿命t不变的条件下,首先必须把贮存温度水平T0下的失效率λ(t)转化为试验温度水平Ti 下的失效率λ′(t);由于电连接器的寿命服从两参数的Weibull分布,因此,可得电连接器在试验温度水平Ti下的失效率函数为:λ′(t)=mtm-1/(η′)m 式中,m为电连接器的形状参数,η′为电连接器在试验温度水平Ti下的特征寿命参数;由电连接器贮存温度水平T0下的失效率函数及上述试验温度水平Ti下的失效率函数可得第(1)数式:λ′(t)/λ(t)=(η/η′)m (1)式中,η为电连接器在试验温度水平T0下的特征寿命参数;由于<math> <mrow> <mi>η</mi> <mo>/</mo> <msup> <mi>η</mi> <mo>′</mo> </msup> <mo>=</mo> <msub> <mi>a</mi> <mrow> <msub> <mi>T</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>T</mi> <mn>0</mn> </msub> </mrow> </msub> </mrow> </math> 其中,aTi~T0为不同的试验温度Ti相对于贮存温度T0的加速系数值,通过aTi~T0,第(1)数式可转化为<math> <mrow> <msup> <mi>λ</mi> <mo>′</mo> </msup> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <mi>λ</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>·</mo> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>a</mi> <mrow> <msub> <mi>T</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>T</mi> <mn>0</mn> </msub> </mrow> </msub> <mo>)</mo> </mrow> <mi>m</mi> </msup> </mrow> </math> 从而<math> <mrow> <msubsup> <mi>λ</mi> <mn>0</mn> <mo>′</mo> </msubsup> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>/</mo> <msub> <mi>λ</mi> <mn>0</mn> </msub> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <msubsup> <mi>λ</mi> <mn>1</mn> <mo>′</mo> </msubsup> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>/</mo> <msub> <mi>λ</mi> <mn>1</mn> </msub> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <msubsup> <mi>a</mi> <mrow> <msub> <mi>T</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>T</mi> <mn>0</mn> </msub> </mrow> <mi>m</mi> </msubsup> </mrow> </math> 其中,λ0′(t)和λ1′(t)分别为试验温度水平Ti下的合格失效率和极限失效率。2)这样,在某一试验温度水平Ti下,失效率的鉴别比d′=λ0′(t)/λ1′(t)=λ0(t)/λ1(t)=d也保持不变,因此可利用贮存温度水平T0下的失效率验证试验方案作为其加速验证的试验方案,只不过此时的验证指标是λ′(t)而不是λ(t),其抽样特性函数为:<math> <mrow> <mi>P</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>r</mi> <mo>≤</mo> <mi>c</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <munderover> <mi>Σ</mi> <mrow> <mi>r</mi> <mo>=</mo> <mn>0</mn> </mrow> <mi>c</mi> </munderover> <msubsup> <mi>C</mi> <mi>n</mi> <mi>r</mi> </msubsup> <msup> <mrow> <mo>{</mo> <mn>1</mn> <mo>-</mo> <mi>exp</mi> <mo>[</mo> <mo>-</mo> <mfrac> <mrow> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msup> <mi>τ</mi> <mo>′</mo> </msup> <mo>)</mo> </mrow> <mi>m</mi> </msup> <msup> <mi>λ</mi> <mo>′</mo> </msup> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <msup> <mi>mt</mi> <mrow> <mi>m</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </msup> </mfrac> <mo>]</mo> <mo>}</mo> </mrow> <mi>r</mi> </msup> <msup> <mrow> <mo>{</mo> <mi>exp</mi> <mo>[</mo> <mo>-</mo> <mfrac> <mrow> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msup> <mi>τ</mi> <mo>′</mo> </msup> <mo>)</mo> </mrow> <mi>m</mi> </msup> <msup> <mi>λ</mi> <mo>′</mo> </msup> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <msup> <mi>mt</mi> <mrow> <mi>m</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </msup> </mfrac> <mo>]</mo> <mo>}</mo> </mrow> <mrow> <mi>n</mi> <mo>-</mo> <mi>r</mi> </mrow> </msup> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mo>-</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mn>2</mn> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </math> 式中,τ′为试验温度水平Ti下的验证试验截尾时间。3)在风险水平α和β,样本量n和允许失效数c保持不变的条件下,若寿命t也保持不变,那么,由<math> <mrow> <mi>P</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>r</mi> <mo>≤</mo> <mi>c</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <munderover> <mi>Σ</mi> <mrow> <mi>r</mi> <mo>=</mo> <mn>0</mn> </mrow> <mi>c</mi> </munderover> <msubsup> <mi>C</mi> <mi>n</mi> <mi>r</mi> </msubsup> <msup> <mrow> <mo>{</mo> <mn>1</mn> <mo>-</mo> <mi>exp</mi> <mo>[</mo> <mo>-</mo> <mfrac> <mrow> <msup> <mi>τ</mi> <mi>m</mi> </msup> <mi>λ</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <msup> <mi>mt</mi> <mrow> <mi>m</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </msup> </mfrac> <mo>]</mo> <mo>}</mo> </mrow> <mi>r</mi> </msup> <msup> <mrow> <mo>{</mo> <mi>exp</mi> <mo>[</mo> <mo>-</mo> <mfrac> <mrow> <msup> <mi>τ</mi> <mi>m</mi> </msup> <mi>λ</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <msup> <mi>mt</mi> <mrow> <mi>m</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </msup> </mfrac> <mo>]</mo> <mo>}</mo> </mrow> <mrow> <mi>n</mi> <mo>-</mo> <mi>r</mi> </mrow> </msup> </mrow> </math> 及第(2)数式可得:τmλ(t)/mtm-1=(τ′)mλ′(t)/mtm-1 (3)由第(3)数式和第(1)数式得:<math> <mrow> <msup> <mi>τ</mi> <mo>′</mo> </msup> <mo>=</mo> <mi>τ</mi> <mo>·</mo> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <mi>λ</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>/</mo> <msup> <mi>λ</mi> <mo>′</mo> </msup> <mrow> <mo>(</mo> <mi>t</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>)</mo> </mrow> <mrow> <mn>1</mn> <mo>/</mo> <mi>m</mi> </mrow> </msup> <mo>=</mo> <mi>τ</mi> <mo>·</mo> <mrow> <mo>(</mo> <msup> <mi>η</mi> <mo>′</mo> </msup> <mo>/</mo> <mi>η</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <mi>τ</mi> <mo>/</mo> <msub> <mi>a</mi> <mrow> <msub> <mi>T</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>T</mi> <mn>0</mn> </msub> </mrow> </msub> </mrow> </math> 由此可见,对于以失效率为验证的加速验证试验方案,在其他参数均保持不变的条件下,只要在贮存温度水平T0下的验证试验方案中把试验截尾时间τ除以相应加速系数aTi~T0即可。 | ||
地址 | 310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |