| 发明名称 | 平面度检测治具 | ||
| 摘要 | 本实用新型是关于一种平面度检测治具，设有透光基准治具，所述透光基准治具横截面的外轮廓与被测工件需测面的外轮廓相一致，该透光基准治具的底端近端部侧面上设有色带，该有色带的顶面与该透光基准治具的顶端面平行；该透光基准治具的顶端面中部凸设有定位凸块，该定位凸块的外轮廓与被测工件的内轮廓相一致。采用这种结构后，能采用CCD进行零间隙检测平面度，且检测速度快、效率高、人为差错率低。 | ||
| 申请公布号 | CN2935083Y | 申请公布日期 | 2007.08.15 |
| 申请号 | CN200620016829.1 | 申请日期 | 2006.06.30 |
| 申请人 | 比亚迪股份有限公司 | 发明人 | 朱成都;郝东峰;贺琥;刘宇 |
| 分类号 | G01B11/30(2006.01) | 主分类号 | G01B11/30(2006.01) |
| 代理机构 | 深圳市港湾知识产权代理有限公司 | 代理人 | 胡亚宏 |
| 主权项 | 1.一种平面度检测治具，其特征在于：设有透光基准治具，所述透光基准治具横截面的外轮廓与被测工件需测面的外轮廓相一致，该透光基准治具的底端近端部侧面上设有有色带，该有色带的顶面与该透光基准治具的顶端面平行；该透光基准治具的顶端面中部凸设有定位凸块，该定位凸块的外轮廓与被测工件的内轮廓相一致。 | ||
| 地址 | 518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园 | ||