发明名称 高强度、低介电常数的二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷及制备方法
摘要 本发明涉及一种以高纯度、低介电常数的二氧化硅结合的Si<SUB>3</SUB>N<SUB>4</SUB>多孔陶瓷及制备方法,其特征在于石墨为造孔剂、以外加或氮化硅颗粒表面氧化生成的二氧化硅为结合相的氮化硅多孔陶瓷利用外加和氮化硅颗粒表面氧化生成的二氧化硅在高温下的烧结把氮化硅颗粒结合起来,利用粉料颗粒堆积成孔或造孔剂氧化烧除成孔,从而得到二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷。Si<SUB>3</SUB>N<SUB>4</SUB>∶SiO<SUB>2</SUB>∶石墨=0~100∶0~30∶0~25(重量比),加入酚醛树脂和乙醇,混合后球磨、烘干、研磨、过筛、干压成型,然后在空气中烧成,得到二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷。所得多孔陶瓷的抗弯强度可达137MPa,总孔隙率10~60%,常温介电常数2~7(1GHz),可用于常温和高温环境下使用的天线罩、催化剂载体等材料。
申请公布号 CN1331812C 申请公布日期 2007.08.15
申请号 CN200610024146.5 申请日期 2006.02.24
申请人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明人 曾宇平;丁书强;江东亮
分类号 C04B35/584(2006.01);C04B38/00(2006.01);C04B35/622(2006.01) 主分类号 C04B35/584(2006.01)
代理机构 上海智信专利代理有限公司 代理人 潘振甦
主权项 1、一种二氧化硅结合的氮化硅多孔陶瓷,其特征在于以Si3N4为基体,以外加SiO2和Si3N4颗粒表面氧化生成的SiO2作为结合相将Si3N4颗粒结合起来,石墨为造孔剂,得到的多孔陶瓷总孔隙率为1O~60%;所述的Si3N4∶SiO2∶石墨的重量比为50~100∶0~30∶0~25。
地址 200050上海市定西路1295号