发明名称 Method for automatically aligning a sample in an x-ray diffractometer
摘要 <p>Method for aligning a sample comprising a crystal for X-ray crystallographic analysis, which sample is mounted on a positioning device. A camera is provided for automatically adjusting the position of the sample. </p>
申请公布号 EP1813935(A3) 申请公布日期 2007.08.15
申请号 EP20070106443 申请日期 2000.08.09
申请人 ABBOTT LABORATORIES 发明人 OLSON, JEFFREY, A.;JONES, RONALD, B.;NIENABER, VICKI, L.;MUCHMORE, STEVEN, W.;PAN, JEFFREY, Y.;GREER, JONATHAN
分类号 G01N23/20;G01N23/207 主分类号 G01N23/20
代理机构 代理人
主权项
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