发明名称 | 微电子器件的重要参数的确认方法 | ||
摘要 | 一种微电子器件的重要参数的确认方法,主要包括两个C<SUP>++</SUP>模块:第一个模块是input modular,主要负责对自动测试系统/实验数据的录入和显著性标志的求得,并确保原始数据满足规定的形式和要求;第二个模块是数据处理模块是data handing modular,主要负责对数据矩阵的初次变换和对初次变换后的数据矩阵的处理。优点是:能够准确迅速的判断出微电子的重要参数。能对具有不同的量值范围或不同度量衡范围的微电子器件参数的重要性进行确认。是微电子测试领域和分析领域的一种崭新的技术,其使用对不同的量值范围或不同度量衡的数据都有效。而对原始数据的获得方式无关。并且算法容易编程和实现。 | ||
申请公布号 | CN101017187A | 申请公布日期 | 2007.08.15 |
申请号 | CN200610018328.1 | 申请日期 | 2006.02.07 |
申请人 | 中国船舶重工集团公司第七○九研究所 | 发明人 | 沈森祖;石坚;夏强民 |
分类号 | G01R31/00(2006.01) | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) |
代理机构 | 武汉金堂专利事务所 | 代理人 | 胡清堂 |
主权项 | 1、一种微电子器件的重要参数的确认方法,其特征在于:主要包括两个C++模块:第一个模块是input modular,主要负责对自动测试系统/实验数据的录入和显著性标志的求得,并确保原始数据满足规定的形式和要求;第二个模块是数据处理模块是data handing modular,主要负责对数据矩阵的初次变换和对初次变换后的数据矩阵的处理。 | ||
地址 | 430074湖北省武汉市洪山区珞瑜路718号 |