| 主权项 |
1.一种内建测试电路之薄膜电晶体液晶显示器之 源极驱动器,包含: 复数个驱动单元,系分别接收一数位资料,并根据 该数位资料产生一类比输出讯号;以及 复数个测试单元,系分别接收至少一个前述输出讯 号,并根据一选择信号选择其中一个输出讯号作为 测试信号,每个测试单元比较测试信号与一高参考 电压及一低参考电压,并输出一状态信号; 其中,当该测试信号之电压低于前述高参考电压且 高于前述低参考电压时,将前述状态信号设定为正 常状态,而当该测试信号之电压高于前述高参考电 压或低于前述低参考电压时,将前述状态信号设定 为异常状态。 2.如申请专利范围第1项所记载之内建测试电路之 薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器,其中每个前 述测试单元包含: 一多工器,系接收至少一个前述输出讯号,并根据 前述选择信号输出其中一个输出讯号作为前述测 试信号; 一第一比较器,系接收前述测试信号与一第一参考 电压信号,并比较测试信号与该第一参考电压信号 之电压,并产生一第一比较信号; 一第二比较器,系接收前述测试信号与一第二参考 电压信号,并比较测试信号与该第二参考电压信号 之电压,并产生一第二比较信号;以及 一判断单元,系接收前述第一比较信号与第二比较 信号,产生前述状态信号。 3.如申请专利范围第2项所记载之内建测试电路之 薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器,若其中前述 测试单元之数目P、前述多工器所接收之类比输出 讯号之数目M、以及前述驱动单元之数目N,必须满 足P*M≧N之条件。 4.如申请专利范围第2项所记载之内建测试电路之 薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器,其中前述第 一参考电压信号之电压高于前述第二参考电压信 号。 5.如申请专利范围第4项所记载之内建测试电路之 薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器,其中前述测 试信号的电压高于前述第一参考电压信号之电压 时,前述第一比较信号为L,前述测试信号的电压低 于前述第二参考电压信号之电压时,前述第二比较 信号为H。 6.如申请专利范围第5项所记载之内建测试电路之 薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器,其中前述判 断单元包含: 一反向逻辑闸,系接收前述第一比较信号;以及 一反及闸,系接收前述反向逻辑闸之输出与前述第 二比较信号,并输出前述状态信号。 7.如申请专利范围第5项所记载之内建测试电路之 薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器,其中前述判 断单元包含: 一第一反向逻辑闸,系接收前述第二比较信号; 一反或闸,系接收前述第一反向逻辑闸之输出与前 述第一比较信号;以及 一第二反向逻辑闸,系接收前述反或闸之输出信号 ,并输出前述状态信号。 8.如申请专利范围第1项所记载之内建测试电路之 薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器,其中前述测 试单元包含: 一多工器,系接收复数个前述类比输出讯号,并根 据前述选择信号输出其中一个类比输出讯号作为 前述测试信号; 一比较器,系接收前述测试信号与一参考电压信号 ,并输出一比较信号;以及 一判断单元,系接收前述比较信号,并根据比较信 号的状态输出前述状态信号; 其中,当前述参考电压信号之电压为前述高参考电 压时,若测试信号之电压高于参考电压信号之电压 ,则前述状态信号为异常状态,而当该参考电压信 号之电压为前述低参考电压时,若测试信号之电压 低于参考电压信号之电压,则前述状态信号为异常 状态。 9.如申请专利范围第8项所记载之内建测试电路之 薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器,若其中前述 测试单元之数目P、前述多工器所接收之类比输出 讯号之数目M、以及前述驱动单元之数目N,必须满 足P*M≧N之条件。 10.一种薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器的测 试方法,该源极驱动器系接收N个数位资料并产生N 个类比输出讯号,该测试方法系包含下列步骤: 设定灰阶値之初始値G; 输入灰阶値第G阶之数位资料; 产生参考电压,系产生对应于前述灰阶値第G阶的 高参考电压与低参考电压; 产生一选择信号,该选择信号选择一类比输出讯号 作为测试信号; 比较步骤,系比较前述测试信号之电压是否低于前 述高参考电压且高于前述低参考电压; 当前述测试信号之电压高于前述高参考电压或低 于前述低参考电压时,将一不良警示信号致能,并 结束测试; 当前述测试信号之电压未高于前述高参考电压且 未低于前述低参考电压时,则改变前述选择信号选 择另一类比输出讯号作为测试信号,并跳回前述比 较步骤; 当所有类比输出讯号均已测试完毕,则改变灰阶値 G,并跳回前述产生参考电压步骤;以及 当所有灰阶値均已测试完毕,则结束。 11.一种薄膜电晶体液晶显示器之源极驱动器的测 试方法,该源极驱动器系接收N个数位资料并产生N 个类比输出讯号,系包含下列步骤: 设定灰阶値之初始値G; 输入灰阶値第G阶之数位资料; 产生高参考电压,系产生对应于前述灰阶値第G阶 的高参考电压; 产生一选择信号,该选择信号选择一类比输出讯号 作为测试信号; 第一比较步骤,系比较前述测试信号之电压是否高 于前述高参考电压; 当前述测试信号之电压高于前述高参考电压时,将 一不良警示信号致能,并结束测试; 产生低参考电压,系产生对应于前述灰阶値第G阶 的低参考电压; 第二比较步骤,系比较前述测试信号之电压是否低 于前述低参考电压; 当前述测试信号之电压低于前述低参考电压时,将 一不良警示信号致能,并结束测试; 当前述测试信号之电压未高于前述高参考电压且 未低于前述低参考电压时,则跳回前述产生高参考 电压步骤,并改变前述选择信号选择另一类比输出 讯号作为测试信号; 当所有类比输出讯号均已测试完毕,则改变灰阶値 G,并跳回前述高参考电压产生步骤;以及 当所有灰阶値均已测试完毕,则结束。 图式简单说明: 第1图为一习知源极驱动器。 第2图为一习知测试机。 第3A图为一使用本发明内建测试电路之薄膜电晶 体液晶显示器之源极驱动器整体的测试架构。 第3B图为第3A图之测试单元之第一实施例的方块图 。 第4图为一根据本发明之一种判断单元。 第5图为另一根据本发明之一种判断单元。 第6图为一根据本发明之一种薄膜电晶体液晶显示 器之源极驱动器的测试方法。 第7图为第3A图之测试单元之第二实施例的方块图 。 第8A图与第8B图为另一根据本发明之一种薄膜电晶 体液晶显示器之源极驱动器的测试方法。 |
