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Gemäß der Erfindung wird ein Verfahren zum Verarbeiten von Testergebnissen bereitgestellt, das folgende Schritte aufweist: Empfangen eines Stroms von Testergebnissen, wobei die Testergebnisse 1) einen Tester, der einen Test an zumindest einem zu testenden Bauelement durchführt, und 2) einen Testmodus, der zu Beginn auf einen ersten Testmodus gesetzt ist, betreffen; bei Vorliegen des ersten Testmodus, Bestücken einer ersten Datenstruktur mit den Testergebnissen, wobei die Testergebnisse gemäß Beziehung zwischen den Testergebnissen in die erste Datenstruktur organisiert werden; bei Vorliegen eines zweiten Testmodus, Bestücken einer zweiten Datenstruktur mit den Testergebnissen, wobei die Testergebnisse gemäß Beziehungen zwischen den Testergebnissen in die zweite Datenstruktur organisiert werden; und auf ein Bestimmen hin, dass der Testmodus in den zweiten Testmodus umgeschaltet hat, Erhalten des Zustands der ersten Datenstruktur durch Erhalten einer Anzahl von Indexen, die auf eine Anzahl von Einfügungspunkten von Testergebnissen in die erste Datenstruktur verweisen. Weitere Ausfühungsbeispiele sind ebenso offenbart.
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