| 发明名称 |
高频微波印制板相对介电常数ε<SUB>r</SUB>测试方法 |
| 摘要 |
一种高频微波印制板相对介电常数ε<SUB>r</SUB>测试方法，主要特点在于：所述的测试方法的测试步骤如下：(一)测试高频微波印制板的下列参数：(1)调节参数测试仪的工作频率为10KHz，测试高频微波印制板的电容C(PF)，(2)测出高频微波印制板的面积A(cm<SUP>2</SUP>)，(3)测出高频微波印制板的介质厚度d(cm)，(4)测出高频微波印制板边沿的周长l(cm)；(二)计算高频微波印制板的相对介电常数ε<SUB>r</SUB>：将步骤(一)中的(1)、(2)、(3)和(4)步骤所测量的电容C(PF)、面积A(cm<SUP>2</SUP>)、介质厚度d(cm)和边沿的周长l(cm)代入：式中，计算出高频微波印制板相对介电常数ε<SUB>r</SUB>。 |
| 申请公布号 |
CN101013146A |
申请公布日期 |
2007.08.08 |
| 申请号 |
CN200710079666.0 |
申请日期 |
2007.03.05 |
| 申请人 |
徐缓;阳泽彬 |
发明人 |
阳泽彬 |
| 分类号 |
G01R27/26(2006.01) |
主分类号 |
G01R27/26(2006.01) |
| 代理机构 |
|
代理人 |
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| 主权项 |
1.一种高频微波印制板相对介电常数εr测试方法，其特征在于：所述的介电常数εr测试方法的测试步骤如下：(一)测试高频微波印制板的下列参数：(1).调节参数测试仪的工作频率为10KHz，测试高频微波印制板的电容C(PF)，(2).测出高频微波印制板的面积A(cm2)，(3).测出高频微波印制板的介质厚度d(cm)，(4).测出高频微波印制板边沿的周长l(cm)；(二)计算高频微波印制板的相对介电常数εr：将步骤(一)中的(1)、(2)、(3)和(4)步骤所测量的电容C(PF)、面积A(cm2)、介质厚度d(cm)和边沿的周长l(cm)代入：<math> <mrow> <msub> <mi>ϵ</mi> <mi>r</mi> </msub> <mo>=</mo> <mfrac> <mi>C</mi> <mrow> <mn>0.0885</mn> <mi>A</mi> <mo>/</mo> <mi>d</mi> <mo>+</mo> <mn>0.04425</mn> <mi>l</mi> <mo>[</mo> <mi>ln</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mn>8</mn> <mi>l</mi> <mo>/</mo> <mi>d</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>-</mo> <mn>1</mn> <mo>]</mo> </mrow> </mfrac> </mrow> </math> 式中，计算出高频微波印制板相对介电常数εr。 |
| 地址 |
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