| 发明名称 | 智能电枢性能综合测试仪 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种智能电枢综合性能测试仪，它包括计算机(7)、继电器输出模块(6)、数据采集模块(5)、恒流电源(4)、继电器开关选择电路(3)、测试夹具探针(2)、电枢线圈及焊接电阻等效电路(1)，所述等效电路(1)的换向片与测试夹具探针(2)的每一路探针一一对应，测试夹具探针(2)经开关与两组恒流电源(4)对应连接，所述等效电路(1)由两组恒流电源(4)供给相等的恒电流，数据采集模块(5)经测试夹具探针(2)采集的所述等效电路(1)的数据传送计算机(7)存储、运算、处理、显示，继电器开关电路(3)开关开或闭由继电器输出模块(6)控制；采用上述结构后，巡测速度是原来的四倍，具有结构合理、速度快、测量效率和精度高等特点。 | ||
| 申请公布号 | CN2932399Y | 申请公布日期 | 2007.08.08 |
| 申请号 | CN200620102199.X | 申请日期 | 2006.03.28 |
| 申请人 | 浙江永康五金生产力促进中心有限公司 | 发明人 | 黄志强;周庆跃 |
| 分类号 | G01R27/02(2006.01);G01R31/00(2006.01);G01R31/12(2006.01) | 主分类号 | G01R27/02(2006.01) |
| 代理机构 | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 | 代理人 | 李德强 |
| 主权项 | 1、一种智能电枢性能综合测试仪，它包括计算机(7)、继电器输出模块(6)、数据采集模块(5)、恒流电源(4)、继电器开关选择电路(3)、测试夹具探针(2)、电枢线圈及焊接电阻等效电路(1)，其特征是：所述电枢线圈及焊接电阻等效电路(1)的换向片与测试夹具探针(2)的每一路探针一一对应，测试夹具探针(2)经继电器开关选择电路(3)的开关与两组恒流电源(4)对应连接，电枢线圈及焊接电阻等效电路(1)由两组恒流电源(4)供给相等的恒电流，数据采集模块(5)经测试夹具探针(2)采集的电枢线圈及焊接电阻等效电路(1)的数据传送计算机(7)存储、运算、处理、显示，继电器开关电路(3)上的开关打开或闭合由继电器输出模块(6)根据计算机(7)指令控制。 | ||
| 地址 | 321300浙江省永康市金城路19号科技大楼二楼 | ||