发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME
摘要
申请公布号 EP1574867(B1) 申请公布日期 2007.08.08
申请号 EP20030780824 申请日期 2003.12.17
申请人 FUJITSU LIMITED 发明人 FURUYAMA, TAKAAKI
分类号 G01R31/319;G01R31/28;G01R31/317;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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