发明名称 相干散射成像
摘要 采用常规CT或X射线方法识别研究区。之后,采用锐方向性射束(28)扫描研究区,以获得多个不同的散射X射线谱。之后,对每一谱应用几何校正,使得所述谱就像仅取决于研究区内的特征一样。组合采用射束记录的各个谱,并使其相互关联,以确定研究区(32)特征,同时使样品(30)其余部分内的特征的影响降至最低。
申请公布号 CN101014882A 申请公布日期 2007.08.08
申请号 CN200580030168.6 申请日期 2005.09.09
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 米夏埃多·格拉斯;延斯-彼得·施洛姆卡;乌多·范斯特文达勒
分类号 G01V5/00(2006.01) 主分类号 G01V5/00(2006.01)
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 王英
主权项 1.一种相干散射成像系统的操作方法,所述相干散射成像系统具有源(20)、准直器(22)和多通道探测器(24),所述方法包括:执行X射线或计算断层照相(CT)扫描,以识别样本对象(30)中的研究区(32);使锐方向性X射线射束(28)沿多个样本路径(40)穿过所述样本,由此测量相应的多个样本谱(S1、S2、S3),所述多个样本路径(40)中的每个均穿过所述研究区(32),并且测量作为所述探测器上的位置的函数的散射X射线的相应的多个样本谱(S1、S2、S3);基于所述研究区与所述探测器之间的相应距离校正所述样本谱,以获得经校正的谱(C1、C2、C3);以及通过使所述经校正的谱(C1、C2、C3)相互关联而组合所述经校正的谱,以识别共有特征,并将所述共有特征作为所述研究区(32)内存在的特征加以分析。
地址 荷兰艾恩德霍芬