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On propose selon l'invention un procédé de caractérisation d'un système pouvant émettre des particules élémentaires, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes :a. exciter (20) le système (60) à différents instants prédéterminés,b. pour chacune des excitations,b.1. détecter (30) les particules élémentaires (70) émises par le système (60),b.2. mesurer (40) le temps de réponse de la première uniquement parmi lesdites particules détectées,c. déterminer (50) une première fonction de répartition empirique (Phi(t)) ou une première densité de probabilité empirique (ϕ(t)) des temps de réponse mesurés aux étapes (b.2),d. déterminer (50) une deuxième fonction de répartition empirique (F(t)) ou une deuxième densité de probabilité empirique (f(t)) du temps de réponse de chacune des particules détectées aux étapes (b.1) sur la base d'une équation (EQ) qui relie la deuxième fonction de répartition empirique (F(t)) à ladite première fonction de répartition empirique (Phi(t)).
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