发明名称 Optische Nahfeldsonde und optisches Scanning-Nahfeld-Mikroskop
摘要
申请公布号 DE60035250(D1) 申请公布日期 2007.08.02
申请号 DE2000635250 申请日期 2000.12.20
申请人 SEIKO INSTRUMENTS INC. 发明人 TAKASHI, NIWA;KATO, KENJI;KASAMA, NOBUYUKI;OUMI, MANABU;MITSUOKA, YASUYUKI;ICHIHARA, SUSUMU
分类号 G01B11/30;G02B21/00;G01Q60/18;G01Q60/22;G01Q70/10;G01Q70/14;G01Q70/16 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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