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发明名称
Optische Nahfeldsonde und optisches Scanning-Nahfeld-Mikroskop
摘要
申请公布号
DE60035250(D1)
申请公布日期
2007.08.02
申请号
DE2000635250
申请日期
2000.12.20
申请人
SEIKO INSTRUMENTS INC.
发明人
TAKASHI, NIWA;KATO, KENJI;KASAMA, NOBUYUKI;OUMI, MANABU;MITSUOKA, YASUYUKI;ICHIHARA, SUSUMU
分类号
G01B11/30;G02B21/00;G01Q60/18;G01Q60/22;G01Q70/10;G01Q70/14;G01Q70/16
主分类号
G01B11/30
代理机构
代理人
主权项
地址
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