测试装置、测试方法、程式以及记录媒体

摘要

一种测试装置，可依供给之位址讯号的脉冲数进行指定之被测试记忆体的位址之测试。该测试装置包括：图案发生部，用以发生该写入被测试记忆体的写入资料；及第一位址发生部，用以储存表示该些写入资料输入的该被测试记忆体的位址资讯；以及波形成形部，在该第一位址发生部储存的该些位址资讯之对应期间，以所定之周期输出脉冲，发生位址讯号。