发明名称 半导体制造方法所产生之废气的清洁装置及其有关的方法
摘要 本发明提供一种用于处理在半导体制造程序中产生的废气的装置,该装置包括:用于供应废气的废气流入口(2);与废气流入口(2)连接之用于提供空气的空气注入口(32);与废气流入口(2)连接并且具有吸附层之用于吸附经由废气流入口(2)供应的废气的吸附部(4);与吸附部(4)连接并且具有催化剂层(18)之用于催化处理由吸附部(4)排出的废气的催化部(6);以及与流入到催化部(6)的废气的流动路径连接并且用于提供水的水注入口(26)。根据本发明,可以在800℃或以下去除从半导体制造程序或LCD制造程序中产生的废气中所包含的难分解性全氟化物,可以根据催化剂的填充量处理含有大量以及/或者高浓度的全氟化物的废气。
申请公布号 TW200727971 申请公布日期 2007.08.01
申请号 TW095109435 申请日期 2006.03.20
申请人 高化环保技术有限公司 发明人 李到禧;洪雄基;李镇九;张源哲;金斗晟
分类号 B01D53/02(2006.01);B01D53/86(2006.01) 主分类号 B01D53/02(2006.01)
代理机构 代理人 桂齐恒;阎启泰
主权项
地址 韩国