| 摘要 |
一种检测机压接机构之致冷装置，该压接机构具有一可由驱动源驱动升降之下压杆，于该下压杆头端则为下压治具，其中，下压治具内系装设有致冷晶片，该致冷晶片之吸热端连接于下压治具，而放热端则连接于散热装置，致冷晶片系具有不同型之电热半导体材料，并以铜质电极于一端焊接连结一体，另端则分别以铜质电极连结于直流电源之正、负极，而于通电时可于吸热端产生冷却面；藉此，当下压杆下压IC进行检测时，可利用致冷晶片与IC执行测试作业所产生之自热作冷热交换，以使IC的检测能保持于预设的测试温度范围内，进而确保产品的检测良率。 |
