发明名称 | 加权缺陷估计装置以及其相关方法 | ||
摘要 | 本发明揭露一种加权缺陷评估装置以及其相关方法。该加权缺陷评估装置包含有:一缺陷侦测单元,用来当侦测到位于一光碟片上一预定区域之一缺陷时,产生一缺陷值;一加权电路,电连接至该缺陷侦测单元,用来根据该缺陷值以及对应该缺陷于该光碟片上之一位置的一加权因子,以产生一加权缺陷值;以及一运算模组,电连接至该加权电路,用来根据对应该预定区域之复数个加权缺陷值,以对一缺陷估计值进行运算。 | ||
申请公布号 | TW200729185 | 申请公布日期 | 2007.08.01 |
申请号 | TW095142804 | 申请日期 | 2006.11.20 |
申请人 | 联发科技股份有限公司 | 发明人 | 曾维祥;陈新正;陈炳盛 |
分类号 | G11B7/0045(2006.01);G01N21/88(2006.01) | 主分类号 | G11B7/0045(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区笃行一路1号 |