| 发明名称 | 半导体存储设备 | ||
| 摘要 | 一种半导体存储设备，包括，控制信号发生器，用于组合从外部部分施加的命令信号以生成测试信号；设置/重置信号发生器，用于响应于该测试信号而接收从外部部分施加的模式设置信号，并且当该模式设置信号是指定单个设置/重置的信号时，生成第一设置/重置信号；测试逻辑部分，用于响应于该测试信号而存储并然后输出该模式设置信号；设置/重置主信号发生器，用于接收该第一设置/重置信号以输出用于共同控制该半导体存储设备中的内部块的测试模式的设置/重置主信号；以及测试控制信号发生器，用于组合该测试逻辑部分的输出信号以生成多个控制信号，并响应于所述多个控制信号而生成该设置/重置主信号作为多个测试控制信号。 | ||
| 申请公布号 | CN101009141A | 申请公布日期 | 2007.08.01 |
| 申请号 | CN200710003745.3 | 申请日期 | 2007.01.24 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 金琼炫;李载雄 |
| 分类号 | G11C29/16(2006.01) | 主分类号 | G11C29/16(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 李芳华;邸万奎 |
| 主权项 | 1、一种半导体存储设备，包含：控制信号发生器，用于组合外部提供的命令信号以生成测试信号；设置/重置信号发生器，用于响应于该测试信号而接收外部提供的模式设置信号，并且当该模式设置信号是指定单个设置/重置的信号时，生成第一设置/重置信号；测试逻辑部分，用于响应于该测试信号而存储并随后输出该模式设置信号；设置/重置主信号发生器，用于接收该第一设置/重置信号以输出用于共同地控制该半导体存储设备中的内部块的测试模式的设置/重置主信号；以及测试控制信号发生器，用于处理该测试逻辑部分的输出信号以生成多个控制信号，并响应于所述多个控制信号而生成所述设置/重置主信号作为多个测试控制信号。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||