发明名称 |
光学分析系统的自动校准 |
摘要 |
本发明提供一种基于多元的分光镜系统的自动校准,该基于多元的分光镜系统优选被制作为基于多元的分光计。分光镜系统基于多元光学元件,该多元光学元件提供入射光学信号的光谱加权。光谱加权是基于光谱分量的空间分离以及随后利用空间光调制器进行的空间滤光来进行的。分光镜系统的校准是基于空间光调制器的专用校准段,该空间光调制器的位置对应于入射光学信号的特征的校准或参考波长。优选地,所述校准与参考波长由光源产生的激发辐射的波长给出,所述光源用于在感兴趣体积区中引发散射过程。 |
申请公布号 |
CN101010575A |
申请公布日期 |
2007.08.01 |
申请号 |
CN200580028719.5 |
申请日期 |
2005.07.29 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
F·J·P·舒尔曼斯;M·C·范比克;M·范德沃特 |
分类号 |
G01J3/36(2006.01);G01J3/04(2006.01) |
主分类号 |
G01J3/36(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
程天正;梁永 |
主权项 |
1.一种分光镜系统,用于确定光学信号的主要成分,所述光学信号包括来自感兴趣体积区(4)的返回辐射,该分光镜系统包括:-光源(1),用于产生激发辐射,该激发辐射(50)适于被透射到感兴趣体积区中,-物镜(12),用于会聚来自感兴趣体积区(4)的返回辐射,-色散光学元件(30),用于在第一方向上空间分离返回辐射的光谱成分,-空间光处理装置(34),用于调制返回辐射的光谱成分,该空间光处理装置在第一位置还具有参考段(36),该参考段对于激发辐射至少部分透明,-至少第一检测器(40),用于检测经参考段透射的辐射,-控制单元(60),适于基于由所述至少第一检测器检测的辐射来校准光学分析系统。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |