具有差动检测方案的低电压可编程eFuse

摘要

公开了用于集成电路的、合并了差动检测方案的低电压可编程电子熔丝结构。编程步骤在大约1.5倍Vdd下进行，而检测操作在Vdd下进行，这限制了由于检测操作引起的电子熔丝(xF(j))的电阻变化。检测所需的电流幅值被减小，两个因素中的另一个是由于基准熔丝(xF)和被编程的熔丝(xF(j))串联耦合，而在编程期间仅被编程熔丝(xF(j))限制编程电流。在检测操作期间，对于完好熔丝的情况，选通晶体管(mNR)模拟熔丝选择晶体管(g(j))两端的电压降。另外，还公开了用于对电子熔丝的电阻进行表征的电路和方法。

主权项

1.一种集成电路，其适用于电子熔丝的低电压编程和差动检测，该电路包括：电子熔丝，其具有第一端和第二端；被耦合到所述第一端的第一晶体管，所述第一晶体管被配置为将编程电压切换到所述第一端；被耦合到所述电子熔丝的所述第二端的第二晶体管，所述第二晶体管在编程操作与检测操作期间均启用；被耦合到所述第一端、且被耦合到供电电压的第一虚拟熔丝，所述虚拟熔丝被配置为减小通过所述电子熔丝的检测电流；差动放大器，其具有被耦合到所述电子熔丝的所述第一端的第一输入端以及被耦合到第一分压器的第二输入端，其中，所述第一分压器为所述检测操作提供基准电压；以及被耦合到所述分压器的选通晶体管，所述选通晶体管被配置为在所述检测操作期间启用。