发明名称 |
一种晶圆曝光路径优化方法 |
摘要 |
本发明公开一种晶圆曝光路径优化方法。针对现有的“S”形、“Z”形曝光路径时间消耗大的问题,提供一种晶圆曝光路径优化方法,包括如下步骤:确定曝光场分布及曝光路径限制条件;根据曝光路径限制条件,生成初始曝光路径,计算耗时,并将该路径保存为较优路径;进入循环,通过局部路径修改,生成新的曝光路径,并根据曝光路径限制条件判断新路径是否合法,每生成一条合法路径,就计算该路径的耗时,并对比该路径的耗时与较优路径的耗时,若耗时减小则保存此路径为较优路径,若耗时增加则根据进一步的判据决定该路径的取舍,当满足循环退出条件时,退出循环。采用本发明的方法可快速获得优化的晶圆曝光路径,缩短曝光耗时,提高光刻机的产率。 |
申请公布号 |
CN101004556A |
申请公布日期 |
2007.07.25 |
申请号 |
CN200610147717.4 |
申请日期 |
2006.12.21 |
申请人 |
上海微电子装备有限公司 |
发明人 |
何乐;姚名 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 |
代理人 |
王洁 |
主权项 |
1、一种晶圆曝光路径优化方法,其特征在于,所述方法包括下列步骤:(1)确定曝光场分布及曝光路径限制条件;(2)根据曝光路径限制条件,生成初始曝光路径,计算该路径的耗时,并将该路径保存为较优路径;(3)进入循环,通过局部路径修改,生成新的曝光路径,并根据曝光路径限制条件判断该新的曝光路径是否合法,每生成一条合法路径,就计算该路径的耗时,并对比该路径的耗时与较优路径的耗时,如果耗时减小则保存此路径为较优路径,如果耗时增加则根据进一步的判据决定该路径的取舍,当满足循环退出条件时,则退出循环。 |
地址 |
201203上海市张江高科技园区张东路1525号 |