METHOD OF ANALYZING PROBE SUPPORT BY USING FLYING TIME SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY,申请号EP20030733576-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	METHOD OF ANALYZING PROBE SUPPORT BY USING FLYING TIME SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY
摘要
申请公布号	EP1519189(A4)	申请公布日期	2007.07.25
申请号	EP20030733576	申请日期	2003.06.26
申请人	CANON KABUSHIKI KAISHA	发明人	OKAMOTO, TADASHI;TAKASE, HIROMITSU;HASHIMOTO, HIROYUKI
分类号	C12Q1/68;G01N23/225;G01N33/53	主分类号	C12Q1/68
代理机构		代理人
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