发明名称 |
在衬底中进行凹槽刻蚀操作的方法 |
摘要 |
提供了一种在衬底中进行凹槽刻蚀操作的方法,其包括:在衬底上形成硬掩膜,并且利用该硬掩膜在衬底中刻蚀出沟槽,在硬掩膜之上和该沟槽中形成介电层,该介电层衬垫该沟槽。然后将导电材料涂敷在介电层之上,使得该导电材料覆盖在该硬掩膜之上并填充该沟槽,对该导电材料进行刻蚀以基本上使导电材料平坦。在即将把所有的导电材料从覆盖硬掩膜的介电层上去除之前,导电材料的刻蚀触发终点。对导电材料进行凹槽刻蚀,以去除覆盖硬掩膜的介电层上的导电材料,并且从沟槽中去除至少一部分导电材料。 |
申请公布号 |
CN1328776C |
申请公布日期 |
2007.07.25 |
申请号 |
CN02821836.1 |
申请日期 |
2002.10.30 |
申请人 |
拉姆研究公司 |
发明人 |
琳达·布拉里;瓦希德·瓦赫迪;爱瑞克·艾德博格;艾伦·米勒 |
分类号 |
H01L21/66(2006.01);H01L21/321(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/66(2006.01) |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 |
代理人 |
李辉 |
主权项 |
1.一种在衬底中进行凹槽刻蚀操作的方法,包括:a)在衬底上形成硬掩膜;b)利用该硬掩膜在衬底中刻蚀出沟槽;c)在该硬掩膜上和该沟槽中形成介电层,该介电层构造为衬垫该沟槽;d)将导电材料涂敷在介电层上,使得该导电材料覆盖该硬掩膜并填充该沟槽;e)对该导电材料进行刻蚀,以使导电材料平坦,该导电材料的刻蚀设置为,在即将从覆盖硬掩膜的介电层上去除所有的导电材料之前触发终点;并且f)对该导电材料进行凹槽刻蚀,以去除覆盖硬掩膜的介电层上的导电材料,并且从沟槽中去除至少一部分导电材料。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |