| 主权项 |
1.一种测试机构,可接受一机具的一控制单元之驱 动而将待测物移动至一测试区进行测试分类,且该 测试机构包含: 一固定单元,连接在该控制单元上,具有一容置空 间及一设置在该容置空间内的缓冲元件; 一活动单元,具有至少一可沿一第一方向活动且一 端轴设在该容置空间内的嵌引件;以及 一测试座,位于该活动单元下方且与该嵌引件连结 ,具有一顶面、一相反于该顶面的底面,以及至少 一个设于该底面的嵌置孔,用以吸附一测试治具。 2.如申请专利范围第1项所述之测试机构,其中该缓 冲元件是以弹性材料制成薄片状。 3.如申请专利范围第2项所述之测试机构,其中该固 定单元更具有一连通该容置空间的进气孔,可供外 界加压流体泵送入该容置空间,促使该缓冲元件可 保持表面张力。 4.如申请专利范围第2项所述之测试机构,其中固定 单元是由一上壳件及一下壳件对接而成,该上、下 壳件对合后的内壁面是构成该封闭状的容置空间, 且使得该缓冲元件夹设在该上、下壳件之间。 5.如申请专利范围第4项所述之测试机构,其中该固 定单元更具有复数锁设元件,该等锁设元件是穿置 过该下壳件及该缓冲元件后,再锁设入该上壳件。 6.如申请专利范围第1项所述之测试机构,其中该活 动单元更具有一轴设在容置空间内且与嵌引件固 接的活动座,且该活动座是对应于该缓冲元件。 7.如申请专利范围第6项所述之测试机构,其中该固 定单元更具有一装设于该容置空间内的导柱,该活 动座对应该导柱开设有一导孔。 8.如申请专利范围第6项所述之测试机构,其中该活 动单元更具有至少一自该活动座底部朝下延伸且 凸露出该容置空间外的抵接台。 9.如申请专利范围第1项所述之测试机构,其中该活 动单元的嵌引件包括有反向设置的一大径段及一 小径段。 10.如申请专利范围第9项所述之测试机构,更包含 有一设置在该活动单元该测试座之间的连结单元, 该连结单元具有一顶面、一与该顶面反向的底面 、至少一贯通该顶、底面的滑槽,使该嵌引件的大 径段可伸设在该滑槽内且无脱出之虞。 11.如申请专利范围第10项所述之测试机构,其中该 连结单元更具有至少一装设在该滑槽内且套穿该 嵌引件的滑套。 12.如申请专利范围第11项所述之测试机构,其中该 滑套开孔的孔径是小于该嵌引件大径段的外径。 13.如申请专利范围第10项所述之测试机构,其中该 连结单元更具有复数个沿一第二方向开设的弧形 孔,及复数个穿置过该等弧形孔且锁设入该测试座 内的螺栓,使该测试座能沿该弧形孔的长方向且相 对该连结单元产生径向旋摆。 14.如申请专利范围第10项所述之测试机构,更包含 有复数个装设在该测试座一顶面与该连结单元底 面之间的滑动单元,且使得该测试座与该连结单元 之间形成有一间隙。 15.如申请专利范围第14项所述之测试机构,其中该 滑动单元为滚珠轴承。 16.如申请专利范围第1项述之测试机构,其中该测 试座更具有复数个分别对应该等嵌置孔且可相连 通的导气孔。 17.如申请专利范围第1项述之测试机构,更包含有 一固接在该控制单元与该固定单元之间的基座。 18.如申请专利范围第17项所述之测试机构,其中该 基座具有二分别位于短侧边的挂接部,用以挂设于 该控制单元下方。 图式简单说明: 第1图系绘示依照本新型一较佳实施例的一种测试 机构的分解立体图。 第2图系绘示依照本新型该较佳实施例的一种测试 机构的剖面图。 第3图系绘示依照本新型该较佳实施例的一种测试 机构在沿着第2图的3-3截面线所剖切后的剖面图。 第4图系绘示依照本新型该较佳实施例的一种测试 机构在一第一定位使用状态下的剖面图。 第5图系绘示依照本新型该较佳实施例的一种测试 机构在一第二定位状态下的剖面图。 |
