摘要 |
Testmodus zum komponentenspezifischen Prüfen eines Speichermoduls. Daten werden in jede Speicherkomponente eines Speichermoduls geschrieben und gespeichert, wobei die Daten angeben, ob die Speicherkomponente einen bestimmten Testmodus ausführen soll. Nach dem Empfang eines gemeinsam allen Speicherkomponenten des Speichermoduls zugeführten Testmodusbefehls untersucht jede Speicherkomponente die Daten, um zu bestimmen, ob sie einen gleichzeitig damit zugeführten Testmodusbefehl oder nachfolgend zugeführte Testmodusbefehle ausführen soll.
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