发明名称 | 非挥发性记忆体与半导体元件的制造方法 | ||
摘要 | 一种非挥发性记忆体的制造方法,此方法首先提供基底,并于基底上形成数个第一记忆胞。第一记忆胞自基底依序为第一复合层、第一导体层与顶盖层。第一记忆胞的侧壁形成有间隙壁。接着,于这些第一记忆胞之间形成数个第二记忆胞。第二记忆胞自基底起依序为第二复合层与第二导体层。然后,移除顶盖层。对第一导体层与第二导体层进行掺杂制程,并分别于第一导体层与第二导体层上形成一层金属矽化物层。利用此方法可降低第一记忆胞的热预算,并使第一记忆胞与第二记忆胞具有均一的电性。 | ||
申请公布号 | TW200727412 | 申请公布日期 | 2007.07.16 |
申请号 | TW095100315 | 申请日期 | 2006.01.04 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 魏鸿基;毕嘉慧;赖佳平;王进忠 |
分类号 | H01L21/8247(2006.01) | 主分类号 | H01L21/8247(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |